株式会社東京精密 - 東京都八王子市

  1. TOP
  2. 東京都
  3. 八王子市
  4. 株式会社東京精密

株式会社東京精密の基本データ

商号又は名称 株式会社東京精密
商号又は名称（フリガナ） トウキョウセイミツ
商号又は名称（英語表記） TOKYO SEIMITSU CO., LTD.
法人番号 5010101009430
法人種別 株式会社
都道府県 東京都
市区町村 八王子市
郵便番号 〒1920032
登記住所 東京都八王子市石川町２９６８番地２
国内所在地（英語表記） 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi Tokyo
最寄り駅 JR八高線 北八王子駅 0.4km 徒歩5分以上
登録年月日 2015/10/05
更新年月日 2021/05/28
更新区分 新規
概要 株式会社東京精密の法人番号は5010101009430です。
株式会社東京精密の法人種別は"株式会社"です。
商号又は名称のヨミガナはトウキョウセイミツ です。
また商号又は名称の英語表記はTOKYO SEIMITSU CO., LTD. となります。
登記上の所在地は、2021/05/28現在 〒1920032 東京都八王子市石川町２９６８番地２ となっています。
また、国内所在地の英語表記は 2968-2, Ishikawa-machi, Hachioji-shi Tokyo になります。
"JR八高線 北八王子駅 0.4km 徒歩5分以上" が最寄り駅の情報となります。
株式会社東京精密は、2015/10/05に法人番号が新規登録されています。
位置情報：東京都八王子市石川町２９６８番地２

株式会社東京精密周辺の天気情報

八王子市の予測雨量
04/27 06:05現在0.1（mm/h） 04/27 07:05予測0.1（mm/h）
東京都 東京 の天気
今日 04月26日(金) 明日 04月27日(土)
晴のち曇  晴のち曇 : 最高 27 ℃ 最低  - ℃ 曇一時雨  曇一時雨 : 最高 24 ℃ 最低 17 ℃
　関東甲信地方は、高気圧に覆われています。 　東京地方は、晴れや曇りとなっています。また、黄砂が観測されています。 　２６日は、高気圧に覆われますが、気圧の谷や湿った空気の影響を受ける見込みです。このため、晴れますが、夕方からは曇りとなるでしょう。また、引き続き黄砂が観測される可能性があります。 　２７日は、低気圧や湿った空気の影響を受ける見込みです。このため、曇りで昼前は一時雨となるでしょう。 【関東甲信地方】 　関東甲信地方は、晴れや曇りとなっています。 　また、黄砂が観測された所があります。 　２６日は、高気圧に覆われますが、気圧の谷や湿った空気の影響を受ける見込みです。このため、晴れのち曇りでしょう。また、黄砂が観測される可能性があります。 　２７日は、低気圧や湿った空気の影響を受けますが、次第に高気圧に覆われる見込みです。このため、曇りや雨で、昼前から晴れる所があるでしょう。 　関東地方と伊豆諸島の海上では、２６日から２７日にかけて、うねりを伴い波がやや高いでしょう。
Powered by お天気Webサービス
同名法人の情報あり

 "株式会社東京精密" の名称を含む法人を探す

株式会社東京精密の株式上場データ

マーケット 東証一部
業種 精密機器
証券コード7729
上場年月日1962年8月
決算月3月末日

株式会社東京精密の法人詳細データ

代表者名 代表取締役社長ＣＯＯ　　木　村　龍　一
法人名ふりがな とうきょうせいみつ
資本金 11,064,000,000円
従業員数 1,176人
設立年月日 1949年3月28日
事業項目 115,118,215,218,306,309
企業ホームページ  https://www.accretech.jp/sustainability/humanResources.html

株式会社東京精密の大株主の状況

企業名もしくは出資者 出資比率（％）
日本マスタートラスト信託銀行㈱ (信託口) 16.76
㈱日本カストディ銀行(信託口) 8.11
公益財団法人精密測定技術振興財団 2.62
JP MORGAN CHASE BANK 385632(常任代理人 ㈱みずほ銀行決済営業部) 2.49
SSBTC CLIENT OMNIBUS ACCOUNT(常任代理人 香港上海銀行東京支店 カストディ業務部) 2.34
㈱みずほ銀行 1.66
矢野　絢子 1.52
STATE STREET LONDON CARE OFSTATE STREET BANK AND TRUST,BOSTON SSBTC A/C UK LONDONBRANCH CLIENTS-UNITED KINGDOM (常任代理人 香港上海銀行東京支店 カストディ業務部) 1.46
STATE STREET BANK AND TRUSTCOMPANY 505223(常任代理人 ㈱みずほ銀行決済営業部) 1.37
STATE STREET BANK WEST CLIENT-TREATY 505234(常任代理人 ㈱みずほ銀行決済営業部) 1.3

株式会社東京精密の経営指標の推移

 当期 第100期(自 2022年４月１日　至 2023年３月31日)
当期（円）
売上高 122,274,000,000
経常利益又は経常損失（△） 32,408,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 22,835,000,000
資本金 11,064,000,000
純資産 119,462,000,000
総資産 175,187,000,000
従業員数 1,054 人
1期前（円）
売上高 107,841,000,000
経常利益又は経常損失（△） 29,804,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 24,086,000,000
資本金 11,000,000,000
純資産 106,258,000,000
総資産 157,146,000,000
従業員数 992 人
2期前（円）
売上高 77,793,000,000
経常利益又は経常損失（△） 12,392,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 8,923,000,000
資本金 10,818,000,000
純資産 90,367,000,000
総資産 130,515,000,000
従業員数 944 人
3期前（円）
売上高 68,647,000,000
経常利益又は経常損失（△） 14,928,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 10,942,000,000
資本金 10,703,000,000
純資産 87,068,000,000
総資産 119,436,000,000
従業員数 912 人
4期前（円）
売上高 84,655,000,000
経常利益又は経常損失（△） 14,895,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 11,110,000,000
資本金 10,591,000,000
純資産 80,992,000,000
総資産 125,784,000,000
従業員数 868 人

株式会社東京精密の職場データ

平均勤続年数（男女） 男性：12年 女性：7年
労働者に占める女性労働者の割合 18%
管理職全体人数（男女計） 212人
女性管理職人数 5人
役員全体人数（男女計） 13人
女性役員人数 2人

株式会社東京精密の特許情報  720件

出願年月日 出願番号 特許分類 タイトル
2022/11/30 2022191842 特許 レーザ光の光軸調整方法及び装置
2022/11/30 2022191843 特許 レーザ光の光軸調整方法及び装置
2022/11/7 2022024100 意匠 ロッカー
2022/8/26 2022098873 商標 Ｇａｍｍａα
2022/8/26 2022098872 商標 §Ｇａｍｍａα
2022/3/28 2022051017 特許 ツールホルダ装着状態検出方法及び装置、並びに工作機械
2021/10/28 2021134866 商標 Ｓｈａｆｔｃｏｍ
2021/3/19 2021045451 特許 ウエハエッジ部の改質装置及び改質方法
2021/3/19 2021133140 特許 ウエハエッジ部の改質装置及び改質方法
2021/3/19 2021045353 特許 レーザ加工装置
2021/3/18 2021032471 商標 ＡＣＣＲＥＴＥＣＨ
2021/2/22 2022518620 特許 測定装置
2021/1/25 2021007606 商標 §ＳＢＳ＼ＤＹＮＡＭＩＣ　ＢＡＬＡＮＣＥ　ＳＹＳＴＥＭ
2021/1/25 2021007607 商標 ＳＢＳ
2020/9/4 2021112218 特許 ダイシング装置及び方法
2020/9/4 2020149028 特許 ダイシング装置及び方法
2020/8/28 2020144159 特許 レーザ加工装置
2020/8/28 2021198202 特許 レーザ加工装置
2020/4/28 2020079381 特許 測定装置及び測定方法
2020/3/4 2020037113 特許 三次元測定システム及び三次元測定方法
2020/3/3 2020086099 特許 ワーク加工装置及び方法
2020/3/3 2020068910 特許 ワーク加工装置及び方法
2020/3/3 2020035651 特許 ワーク加工装置及び方法
2019/11/27 2019214039 特許 検出器、表面性状測定装置及び測定方法
2019/11/27 2020199509 特許 表面性状測定装置及び測定方法
2019/11/22 2019211559 特許 表面形状測定機、及び表面形状測定方法
2019/10/29 2020003719 特許 レーザ加工装置の収差調整方法及び収差制御方法
2019/10/29 2019196178 特許 レーザ加工装置、レーザ加工装置の収差調整方法、レーザ加工装置の収差制御方法、及びレーザ加工方法
2019/8/23 2019152950 特許 形状測定装置
2019/8/23 2019152949 特許 形状測定装置
2019/7/17 2019132071 特許 測定装置
2019/7/16 2019097117 商標 ＸＹＡＮＡ　ｓｍａｒｔ
2019/4/17 2019053682 商標 ＸＹＺＡＸ
2019/4/17 2019053681 商標 Ｏｐｔ－ＢＬＩＳＫ
2019/4/16 2019077810 特許 変位検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
2019/3/28 2019063536 特許 形状測定機及びその制御方法
2019/3/28 2019063537 特許 三次元座標測定機及び三次元座標測定方法
2019/3/27 2019061420 特許 回転塗布装置及び回転塗布方法
2019/3/27 2019060641 特許 基板加工装置
2019/3/27 2019061429 特許 回転塗布装置及び回転塗布方法
2019/3/27 2019060642 特許 基板加工装置
2019/3/27 2019061419 特許 測定方法及び装置
2019/3/25 2019057101 特許 画像処理方法及び測定装置
2019/3/13 2019046057 特許 レンズ倍率認識方法及び測定装置
2019/3/7 2019041148 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2019/3/6 2019040160 特許 ウエハ保持装置
2019/3/6 2019040658 特許 レーザ加工装置及び撮像装置
2019/2/19 2019027523 特許 ワーク検査方法及び装置並びにワーク加工方法
2019/2/15 2019025500 特許 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法
2019/2/15 2019025501 特許 シリコンウェハの研削後表面のレーザー照射修復装置及び修復方法
2019/2/5 2019018839 特許 加工装置
2019/2/4 2019017958 特許 ウェーハ剥離洗浄装置
2019/2/4 2019017957 特許 ウェーハ剥離洗浄装置
2019/2/4 2019017956 特許 ウェーハ剥離洗浄装置
2019/1/30 2019014491 特許 被搬送物の位置決め装置及び位置決め方法
2019/1/16 2019005257 特許 ウェーハチャック及びウェーハ保持装置
2019/1/16 2019005595 特許 平面加工装置
2019/1/15 2019004378 特許 ウェーハ検出装置、ウェーハ検出方法、及びプローバ
2019/1/9 2019002028 特許 電子部品のポッティング方法及びそれを用いた電子装置
2019/1/9 2019001959 特許 レーザダイシング装置
2018/12/28 2018246899 特許 レーザ加工装置及びその制御方法
2018/12/28 2018246897 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2018/12/28 2018246898 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2018/12/27 2018245112 特許 形状測定装置
2018/12/19 2018237290 特許 光回転プローブ及び形状測定装置
2018/12/19 2018237291 特許 距離測定装置及びその制御方法
2018/12/17 2018235510 特許 補助方法及び補助装置
2018/12/17 2018235944 特許 ウエハ研磨装置
2018/12/14 2018234618 特許 貼り合わせウェーハのエッジトリミング加工方法
2018/12/14 2018234125 特許 貼り合わせウェーハのエッジトリミング加工方法
2018/11/28 2018221928 特許 多軸レーザ干渉測長器
2018/11/20 2018217786 特許 ウエハ受け渡し装置
2018/11/20 2018217785 特許 ウエハ受け渡し装置
2018/11/19 2018216748 特許 レーザ加工装置及びその制御方法
2018/11/9 2018211634 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2018/11/9 2018211635 特許 ダイシング方法及び装置
2018/11/9 2018211636 特許 ダイシング装置及びダイシング方法並びにダイシングテープ
2018/11/8 2018210352 特許 レーザー加工方法及び装置
2018/11/8 2018210351 特許 亀裂検出装置及び方法
2018/10/31 2018205453 特許 亀裂検出装置及び亀裂検出方法
2018/10/10 2018192092 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2018/10/10 2018191943 特許 三次元測定結果の処理方法及び処理装置並びに三次元測定機
2018/10/10 2019167034 特許 光変調装置及び光変調方法
2018/9/25 2018178868 特許 ダイシング装置及びカッターセット方法
2018/9/13 2018171852 特許 異常検出方法及び三次元測定機
2018/9/10 2018169236 特許 加工システム及び方法
2018/8/27 2018158475 特許 三次元測定機及び三次元測定方法
2018/8/23 2018156423 特許 ファイバーケーブル切断装置
2018/8/7 2018148742 特許 三次元測定機の作動方法及び三次元測定機
2018/6/28 2018123504 特許 補助装置及び補助方法
2018/6/15 2018079433 商標 ＡＣＣＲＥＴＥＣＨ∞ＷＩＮ－ＷＩＮ　ＲＥＬＡＴＩＯＮＳＨＩＰＳ＼ＣＲＥＡＴＥ　ＴＨＥ　ＷＯＲＬＤ’Ｓ　Ｎｏ．１　ＰＲＯＤＵＣＴＳ
2018/6/11 2018111424 特許 ＣＭＰ装置及び方法
2018/5/24 2018100079 特許 ＣＭＰ装置
2018/5/8 2018090027 特許 補助方法及び補助装置
2018/4/20 2018081523 特許 テープ付きウェーハの加工装置及びその加工方法
2018/4/19 2018080938 特許 ハブ型ブレード及びハブ型ブレード製造方法
2018/4/19 2018080939 特許 ハブ型ブレード
2018/4/19 2018080940 特許 ハブ型ブレード
2018/4/18 2018079981 特許 ギヤ間に生じるミスアライメントの温度変化を評価する評価方法
2018/3/30 2018040538 商標 Ｓａｗ－ＮＥＴ
2018/3/30 2018040537 商標 Ａｃｃｒｅｔｅｃｈ　Ｓａｗ－ＮＥＴ
2018/3/29 2018064818 特許 導通検査装置、プローバ
2018/3/29 2018064819 特許 形状測定機
2018/3/29 2018064820 特許 校正ユニット、及び形状測定機校正装置
2018/3/29 2018064821 特許 測定機管理装置及び方法
2018/3/28 2018062229 特許 エンコーダ
2018/3/28 2018062608 特許 板厚の測定装置及び板厚の測定方法
2018/3/28 2018062231 特許 焼成前セラミックス積層体の切断方法およびそれに用いる装置
2018/3/28 2018062232 特許 貼り合せ基板の測定方法および加工方法並びにそれらに用いる装置
2018/3/28 2018062230 特許 測定ヘッド及びその温度特性を調整する方法
2018/3/28 2022055082 特許 光学式測定器およびそれを用いた測定方法
2018/3/28 2018062275 特許 光学式測定器およびそれを用いた測定方法
2018/3/28 2022030887 特許 貼り合せ基板の測定方法および加工方法並びにそれらに用いる装置
2018/3/28 2018062233 特許 内径測定装置およびそれを用いた測定方法
2018/3/28 2022083816 特許 測定ヘッド及びその温度特性を調整する方法
2018/3/28 2018062877 特許 プローバシステム
2018/3/27 2018060255 特許 ウェーハ分割装置及び方法
2018/3/27 2018060256 特許 異常検出方法及び三次元測定器
2018/3/26 2018058564 特許 面取り加工システム及びそれに用いられるツルーイング装置
2018/3/26 2018057524 特許 外径測定器及びその温度特性を調整する方法、並びに研削装置
2018/3/23 2018055709 特許 ウェーハ面取り装置及びウェーハ面取り方法
2018/3/23 2022046616 特許 ウェーハ面取り装置及びウェーハ面取り方法
2018/3/23 2018056956 特許 表面形状測定装置
2018/3/22 2018054827 特許 プローバの冷却システム
2018/3/22 2018054829 特許 プローバの冷却システム
2018/3/22 2022053619 特許 搬送装置
2018/3/22 2018054826 特許 プローバのウェーハ搬送装置
2018/3/20 2018053264 特許 研磨装置
2018/3/20 2018053262 特許 研磨装置
2018/3/20 2018053263 特許 研磨装置
2018/3/19 2018051479 特許 表面形状測定装置
2018/3/16 2018049938 特許 プローバ
2018/3/16 2018049083 特許 ウェハ分断装置及び方法
2018/3/13 2018045523 特許 研磨装置
2018/3/12 2018044790 特許 加工装置
2018/3/12 2018044509 特許 形状解析装置、形状解析方法、およびプログラム
2018/3/7 2018041350 特許 研磨装置
2018/3/7 2018041348 特許 研削盤
2018/3/2 2018037193 特許 球面内径測定装置および測定方法
2018/3/2 2018037599 特許 ウエハ搬送保持装置
2018/3/2 2018037192 特許 エアマイクロ
2018/3/2 2018037194 特許 絶対距離測定装置及びその方法
2018/3/2 2018037191 特許 接触式の外径測定装置及び外径測定方法
2018/3/2 2022034166 特許 球面内径測定装置および測定方法
2018/3/2 2018037713 特許 形状測定装置
2018/3/2 2018037712 特許 形状測定装置
2018/3/2 2022033429 特許 形状測定装置
2018/3/1 2018036619 特許 測定プログラムの管理方法
2018/2/27 2018033120 特許 プローバ
2018/2/26 2018032065 特許 荷重分散板
2018/2/23 2018031051 特許 チャック装置及び表面形状測定機
2018/2/19 2018027436 特許 研削装置
2018/2/7 2018241291 特許 表面形状測定機
2018/2/7 2018020118 特許 表面形状測定機
2018/2/2 2018017273 特許 リニア駆動機構及び形状測定機
2018/2/2 2018238072 特許 リニア駆動機構
2018/2/1 2018016651 特許 検出器及び真円度測定機
2018/2/1 2021207251 特許 検出器及び真円度測定機
2018/1/19 2018007144 特許 ワークの搬送装置、及び、ワークの搬送方法
2018/1/19 2021211810 特許 ワークの保持装置、及び、ワークの保持方法
2018/1/11 2018002669 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2018/1/11 2018002670 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2017/12/28 2017254250 特許 ＣＭＰ装置
2017/12/26 2017248726 特許 旋回動作に追従する配線・配管の保護装置
2017/12/18 2017241358 特許 洗浄装置
2017/12/15 2017240607 特許 測定装置及び測定方法
2017/12/12 2017237814 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2017/11/30 2017230342 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2017/11/30 2017230343 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2017/11/6 2017213724 特許 ウェーハの加工方法
2017/10/24 2021118776 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2017/10/24 2018547681 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2017/9/22 2017182782 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2017/9/22 2021110752 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2017/9/11 2017174111 特許 校正装置及び校正方法
2017/9/8 2017172845 特許 測定器及びそれに用いる衝突退避機構並びに衝突退避方法
2017/9/8 2021188532 特許 測定器、衝突退避方法、工作機械、及び、ワークの加工方法
2017/8/24 2017160776 特許 外径測定装置及びその調整方法
2017/8/24 2021045953 特許 外径測定装置及びその調整方法
2017/8/15 2017156858 特許 断線検出装置、断線検出方法、及びプローブ先端検出装置
2017/8/1 2017149323 特許 レーザー加工装置及び亀裂検出方法
2017/8/1 2021095581 特許 亀裂検出装置及び亀裂検出方法
2017/7/18 2017138739 特許 非破壊検査装置及びその方法
2017/5/30 2017106787 特許 ブレード検査装置及びブレード検査方法
2017/5/18 2017067840 商標 ＳＵＲＦＣＯＭ　ＣＲＥＳＴ
2017/5/18 2017067839 商標 ＳＵＲＦＣＯＭ　ＮＥＸ
2017/5/15 2017096468 特許 宅配ボックスシステム及びインターホン装置
2017/5/9 2017093426 特許 ハブ型ブレード取付け構造及び基板切断装置
2017/4/27 2017088552 特許 切刃ブレード、ハブ型ブレード及び切刃ブレード製造方法
2017/4/27 2021143287 特許 切刃ブレード
2017/3/31 2017071769 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2017/3/31 2021073884 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2017/3/31 2017071770 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2017/3/31 2017071771 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2017/3/31 2017071772 特許 表面形状測定機の校正装置
2017/3/30 2021106252 特許 スピンナー洗浄装置
2017/3/30 2017066937 特許 渦電流式変位計
2017/3/30 2017067852 特許 スピンナー洗浄装置
2017/3/30 2021158775 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2017/3/30 2017068273 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2017/3/30 2021082507 特許 超音波計測装置及び超音波計測方法
2017/3/30 2017066935 特許 超音波計測装置及び超音波計測方法
2017/3/30 2021175128 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2017/3/30 2017066936 特許 液面高さ測定装置、該液面高さ測定装置を有する液注入装置、および液面高さ測定装置を用いた液面高さ測定方法
2017/3/30 2017068274 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2017/3/30 2022032404 特許 液面高さ測定装置、および液面高さ測定方法
2017/3/30 2017067710 特許 検出器及び表面粗さ測定機
2017/3/29 2017064471 特許 ウェーハの位置決め装置及びそれを用いた面取り装置
2017/3/29 2017064470 特許 ウェーハの表裏判定装置及びそれを用いた面取り装置
2017/3/29 2021077568 特許 ウェーハの位置決め装置及びそれを用いた面取り装置
2017/3/29 2017066104 特許 表面形状測定装置の角度補正方法及び角度補正装置
2017/3/29 2017064469 特許 内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法
2017/3/29 2021147470 特許 ツルーイング方法及び面取り装置
2017/3/29 2017064472 特許 ツルーイング方法及び面取り装置
2017/3/29 2017064473 特許 ウェーハ及びウェーハの薄化方法並びにウェーハの薄化装置
2017/3/29 2021073203 特許 ウェーハの表裏判定装置及びそれを用いた面取り装置
2017/3/29 2021094295 特許 ウェーハ及びウェーハの薄化方法並びにウェーハの薄化装置
2017/3/29 2022046615 特許 内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法
2017/3/29 2021002284 特許 内径測定装置およびそれを用いた内径測定方法
2017/3/28 2017063443 特許 三次元座標測定装置
2017/3/28 2017062149 特許 表面異物検出装置およびそれを用いた表面異物検出方法
2017/3/28 2017063445 特許 表面形状測定機の校正方法及び校正装置
2017/3/28 2017063444 特許 形状測定装置及び形状測定方法
2017/3/28 2017063924 特許 研削装置
2017/3/28 2021084308 特許 研削装置
2017/3/28 2021022490 特許 三次元座標測定装置
2017/3/27 2017061386 特許 プローバおよびプリアライメント方法
2017/3/27 2017061388 特許 検出器、輪郭形状測定機及び触針の接触制御方法
2017/3/27 2017061387 特許 検出器、表面性状測定機、及び真円度測定機
2017/3/27 2021096478 特許 ワーク分割方法
2017/3/27 2017061385 特許 表面形状測定装置及びそのスティッチング測定方法
2017/3/27 2021029361 特許 検出器、輪郭形状測定機及び触針の接触制御方法
2017/3/27 2017061384 特許 ワーク分割方法
2017/3/24 2017059702 特許 プローブカードの傾き検出方法及びプローバ
2017/3/24 2017059442 特許 表面測定機用手動送り機構
2017/3/24 2017059441 特許 プローバ
2017/3/24 2021030346 特許 表面測定機用手動送り機構
2017/3/24 2017102459 特許 プローバ
2017/3/24 2017059703 特許 プローバ及びプローバの操作方法
2017/3/23 2021104954 特許 プローバおよびウェーハチャック
2017/3/23 2017057689 特許 プローバ
2017/3/23 2017057266 特許 プローバおよびウェーハチャック
2017/3/23 2021097169 特許 プローバ
2017/3/10 2017046582 特許 ブレード製造方法
2017/3/9 2021027116 特許 ブレード固定装置及びダイシング装置
2017/3/9 2017045099 特許 ブレード固定装置及びダイシング装置
2017/3/9 2017045098 特許 ブレード固定装置及びダイシング装置
2017/3/8 2017044137 特許 表面形状測定方法
2017/3/8 2017044138 特許 表面形状測定方法および表面形状測定装置
2017/3/8 2021081714 特許 表面形状測定方法
2017/3/8 2020215112 特許 表面形状測定方法
2017/3/7 2017043080 特許 プローバ
2017/3/6 2017041847 特許 切断用ブレード及びその製造方法
2017/3/6 2017041711 特許 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
2017/3/6 2020215113 特許 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
2017/2/27 2017035587 特許 ウエハ加工装置
2017/2/27 2021067592 特許 研削装置
2017/2/27 2017035589 特許 研削装置
2017/2/27 2017035591 特許 研削装置
2017/2/27 2017035588 特許 研削装置
2017/2/27 2017035590 特許 研削装置
2017/2/27 2017035586 特許 ウエハ搬送保持装置
2017/2/24 2017033572 特許 表面測定機用検出器
2017/2/20 2017029232 特許 表面粗さ測定システム
2017/2/17 2017027705 特許 ＣＭＰ装置及び方法
2017/2/16 2017027013 特許 ＣＭＰ装置
2017/2/13 2017024400 特許 ハブ型ブレード及びハブ型ブレード製造方法
2017/2/13 2021146163 特許 ハブ型ブレード
2017/2/13 2017024404 特許 ハブ型ブレード
2017/2/13 2018020292 特許 ハブ型ブレード
2017/2/13 2017024402 特許 ハブ型ブレード
2017/2/13 2017024401 特許 ハブ型ブレード及びハブ型ブレード製造方法
2017/1/30 2017014128 特許 研削装置
2017/1/23 2017009840 特許 形状測定装置および形状測定方法
2017/1/20 2017008527 特許 プローバ及びプローブ針の接触方法
2017/1/20 2020206393 特許 プローバ及びプローブ針の接触方法
2017/1/19 2017007742 特許 表面形状測定装置の測定準備アライメント方法及び表面形状測定装置
2017/1/13 2021003213 特許 加温装置及び加温方法
2017/1/13 2017004177 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/12/28 2017223419 特許 超音波式変位センサ及びそれを用いたワーク識別装置
2016/12/28 2021214065 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/12/28 2016254902 特許 ワーク識別装置及び識別方法
2016/12/28 2016256271 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/12/28 2017545601 特許 超音波式変位センサ及びそれを用いたワーク識別装置
2016/12/28 2021006096 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/12/26 2016250539 特許 無線通信装置における消費電力の低減方法および無線通信装置
2016/12/26 2016250540 特許 無線測定システム及び工作機械の測定装置
2016/12/26 2021067442 特許 無線通信装置における消費電力の低減方法および無線通信装置
2016/12/26 2021127038 特許 工作機械
2016/12/20 2017558144 特許 切断用ブレードの製造方法、及び切断用ブレード
2016/12/9 2016239032 特許 測定システム
2016/12/9 2020193091 特許 測定システム及びデータ送信方法
2016/12/2 2016234675 特許 自動工具交換装置付き工作機械及び自動測定方法
2016/11/28 2021036787 特許 加工装置
2016/11/28 2017134804 特許 加工装置
2016/11/28 2017503974 特許 加工装置
2016/11/21 2016226121 特許 測定装置及び測定方法
2016/11/10 2016125580 商標 ＸＹＺＡＸ　ＡＸＣＥＬ
2016/11/10 2016125579 商標 東京精密
2016/11/4 2016216530 特許 ウエハの搬送保持装置
2016/11/4 2021052534 特許 ウエハの搬送保持装置
2016/11/4 2016216531 特許 ウエハの搬送保持装置
2016/11/4 2016216528 特許 ウエハの搬送保持装置
2016/10/31 2016212915 特許 形状測定方法及び形状測定装置
2016/10/31 2016212527 特許 光学式測定器の回り止め
2016/10/31 2022111006 特許 光学式測定器の回り止め
2016/10/31 2021139816 特許 光学式測定器の回り止め
2016/10/31 2016212528 特許 外径測定装置及び測定方法
2016/10/28 2016212091 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/10/28 2020146869 特許 ワーク分割装置
2016/10/28 2016212090 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/10/28 2021146829 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/10/27 2016210196 特許 軸連結調整機構
2016/10/18 2016204494 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2016/10/18 2016204493 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2016/10/3 2016195412 特許 面取り研削方法及び面取り研削装置
2016/10/3 2017096163 特許 面取り研削方法及び面取り研削装置
2016/9/29 2017543543 特許 研削盤
2016/9/28 2018010915 特許 加工装置のセッティング方法
2016/9/28 2016189068 特許 加工装置のセッティング方法
2016/9/21 2016184638 特許 白色干渉装置及び白色干渉装置の計測方法
2016/9/20 2016182715 特許 表面形状測定装置
2016/9/7 2016174976 特許 プローバ
2016/8/31 2016169940 特許 プローバ
2016/8/26 2016166281 特許 ウェハの表面処理装置
2016/8/26 2016166279 特許 ウェハの表面処理装置
2016/8/26 2020150419 特許 ウェハの表面処理装置
2016/8/24 2016163862 特許 ウェハの表面処理装置
2016/8/24 2016163874 特許 ウェハの表面処理装置
2016/8/24 2016163880 特許 ウェハの表面処理方法
2016/8/22 2016162061 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2016/8/22 2020179574 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2016/8/5 2021135505 特許 プローバ
2016/8/5 2016154281 特許 外径測定装置及び測定方法
2016/8/3 2016152557 特許 超音波変位計測装置及び超音波変位計測方法
2016/8/3 2016152556 特許 超音波変位計測装置及び超音波変位計測方法
2016/7/29 2021123074 特許 温度付与装置及び温度付与方法
2016/7/29 2020091104 特許 温度付与装置及び温度付与方法
2016/7/29 2016149680 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2016/7/7 2017529541 特許 プローバ
2016/7/7 2021167415 特許 プローバ
2016/7/7 2018037714 特許 プローバ
2016/7/6 2016134359 特許 距離測定装置及び距離測定方法
2016/7/6 2020030763 特許 距離測定装置及び距離測定方法
2016/7/5 2016133414 特許 真円度測定機の心ずれ量算出方法及び真円度測定機
2016/7/5 2016133413 特許 表面形状測定装置の心ずれ量算出方法、及び表面形状測定装置
2016/7/5 2016208440 特許 表面形状測定方法、心ずれ量算出方法、及び表面形状測定装置
2016/7/5 2017011142 特許 表面形状測定装置
2016/5/9 2016093786 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2016/4/6 2016076292 特許 ワークの支持装置
2016/4/6 2017131977 特許 ワークの支持装置
2016/3/31 2016036903 商標 Ｆｏｒｔｉａ
2016/3/31 2016036904 商標 ＤＡＲＵＭＡステージ
2016/3/31 2016070209 特許 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
2016/3/30 2016068360 特許 ウェーハの面取り方法
2016/3/30 2019225301 特許 ウェーハの面取り方法
2016/3/30 2020189836 特許 ウェーハの面取り装置
2016/3/30 2022007615 特許 ウェーハの面取り装置
2016/3/29 2016065060 特許 超音波ツールおよびその製作方法
2016/3/29 2020158410 特許 超音波ツールおよびその製作方法
2016/3/29 2016065417 特許 ダイシング装置
2016/3/29 2020172961 特許 プローバ
2016/3/29 2020199321 特許 面取り装置及び面取り方法
2016/3/29 2016171662 特許 プローバ
2016/3/29 2022007616 特許 超音波ツールおよびその製作方法
2016/3/29 2016065059 特許 小型デジタル測長器
2016/3/29 2019234760 特許 ダイシング装置
2016/3/29 2016199377 特許 プローバ
2016/3/29 2022028035 特許 面取り装置及び面取り方法
2016/3/29 2017001921 特許 プローバ
2016/3/29 2022014573 特許 プローバ
2016/3/29 2016065061 特許 面取り装置及び面取り方法
2016/3/29 2016066460 特許 プローバ
2016/3/29 2016065058 特許 部品の調芯組立て方法及びロータリ圧縮機の組立て方法並びにそれに用いられる治具
2016/3/29 2016066462 特許 プローバ及びプローブコンタクト方法
2016/3/28 2016063551 特許 ウェーハ研削方法及びウェーハ研削装置
2016/3/22 2016056765 特許 面取り装置及び面取り方法
2016/3/18 2016055901 特許 プローバ
2016/3/18 2016184640 特許 プローバ
2016/3/18 2021024224 特許 プローバ
2016/3/18 2016054607 特許 振動計測装置及び振動計測方法
2016/3/18 2016054744 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2016/3/18 2016131377 特許 プローバ
2016/3/18 2016055902 特許 プローバ
2016/3/18 2016253762 特許 プローバ
2016/3/17 2016053414 特許 光学スケールを有する測長器およびタッチ・プローブ
2016/3/17 2016053415 特許 リニア・スケールを有するエンコーダ及びその原点決定方法
2016/3/17 2016054261 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2016/3/17 2020065563 特許 リニア・スケールを有するエンコーダ
2016/3/16 2018168976 特許 ブレード診断方法、ブレード診断装置、ブレード先端形状算出方法及びブレード先端形状算出装置
2016/3/16 2016051840 特許 ダイシング装置、ブレード診断装置、ブレード診断方法及びプログラム
2016/3/14 2019113744 特許 ダイシング装置
2016/3/11 2020184143 特許 面取り加工装置
2016/3/11 2016047717 特許 面取り加工装置
2016/3/10 2016046812 特許 ウェハ加工装置及びウェハ加工方法
2016/3/7 2016043434 特許 平面度測定方法
2016/3/3 2016040636 特許 真円度測定装置
2016/3/3 2016040637 特許 平面度測定装置
2016/3/1 2016038557 特許 穴径計測装置及びそれを用いた計測方法
2016/2/26 2016036054 特許 搬送ユニット及びプローバ
2016/2/26 2020049004 特許 プローバ
2016/2/26 2016036052 特許 搬送ユニット及びプローバ
2016/2/26 2020207394 特許 搬送ユニット
2016/2/26 2016036053 特許 搬送ユニット及びプローバ
2016/2/26 2016036289 特許 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
2016/2/26 2016036288 特許 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
2016/2/26 2016135112 特許 プローバ
2016/2/26 2016184639 特許 搬送ユニット
2016/2/26 2017001920 特許 プローバ
2016/2/26 2017222436 特許 プローバ
2016/2/26 2016036287 特許 内挿方法及び内挿装置
2016/2/26 2016131378 特許 プローバ
2016/2/26 2021187268 特許 プローバ
2016/2/26 2016197948 特許 プローバ
2016/2/25 2019149882 特許 制御装置及び制御方法
2016/2/25 2016034317 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2016/2/18 2016028923 特許 位置決め測定システム
2016/2/16 2016027044 特許 ウエハ研磨装置
2016/2/15 2016025930 特許 測定支援方法、三次元測定機、及び測定支援プログラム
2016/2/12 2016024721 特許 光学式エンコーダ及びその原点決定方法
2016/2/8 2016022244 特許 研削装置
2016/2/8 2016021453 特許 ダイシング装置及びダイシング用ブレードのドレッシング方法
2016/2/4 2016019637 特許 研削装置
2016/2/4 2016020057 特許 ダイシング装置及びその異常検出方法
2016/2/2 2016017640 特許 ワーク識別装置及び識別方法
2016/2/2 2017091504 特許 識別装置及び識別方法
2016/1/29 2019002672 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016531719 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2020096759 特許 亀裂検出装置及び亀裂検出方法
2016/1/29 2018018410 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2021042814 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016015634 特許 亀裂検出装置及び亀裂検出方法
2016/1/29 2016015850 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2017128896 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016016218 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2019073736 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2018074878 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016015851 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016246967 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2019081046 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016015204 特許 ＬＶＤＴセンサ
2016/1/29 2017068525 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2017193423 特許 三次元座標測定装置
2016/1/29 2016015852 特許 三次元座標測定装置
2016/1/27 2016013154 特許 三次元測定機の測定方法及び測定制御装置、並びに測定プログラム
2016/1/25 2017108308 特許 位置検出装置及びレーザー加工装置
2016/1/25 2016572016 特許 レーザーダイシング装置
2016/1/25 2017166773 特許 位置検出装置及びレーザー加工装置
2016/1/22 2016010602 特許 粗さ測定機
2016/1/22 2016011043 特許 研削装置
2016/1/22 2016011040 特許 研削装置
2016/1/22 2019159562 特許 測定装置
2016/1/13 2020076313 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2016/1/13 2016004434 特許 三次元測定機、測定方法、及び測定プログラム
2016/1/8 2016002737 特許 プローバ及びプローブコンタクト方法
2016/1/8 2016002286 特許 渦電流センサ及びそれを備えたツールホルダ装着状態検出装置
2016/1/8 2016002738 特許 プローバ及びプローブコンタクト方法
2015/12/28 2019132072 特許 切断装置及び切断方法
2015/12/28 2015256156 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2015/12/28 2020067556 特許 レーザ加工装置
2015/12/28 2015256157 特許 レーザ加工装置及びレーザ加工方法
2015/12/21 2015248990 特許 切断用ブレードの製造方法
2015/12/21 2015249001 特許 切断用ブレードの製造方法
2015/12/17 2015246184 特許 光学式エンコーダの原点決定方法及び光学式エンコーダを用いたシステム
2015/12/11 2015242192 特許 画像生成方法及び画像生成装置
2015/12/10 2015241637 特許 研削装置
2015/12/5 2015238107 特許 接触式変位センサ用コントローラ及びそれを用いた変位ゲージ
2015/12/3 2015236768 特許 光軸調整装置及び光軸調整方法
2015/12/3 2015236570 特許 ウェーハ分割方法及びウェーハ分割装置
2015/11/25 2015229409 特許 ウェハ研磨装置
2015/11/16 2015224290 特許 ウェハ搬送装置
2015/11/12 2015221752 特許 インライン検査装置及び検査方法
2015/10/22 2015207748 特許 距離測定装置及びその方法
2015/9/30 2015194473 特許 研削盤
2015/9/30 2016141175 特許 研削盤
2015/9/30 2015192965 特許 収容ボックスシステム、収容ボックスの管理装置及び方法
2015/9/30 2020078458 特許 収容ボックスシステム、収容ボックス管理装置及び方法
2015/9/29 2015191964 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/9/29 2015191963 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/9/29 2020020471 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/9/29 2015191966 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/9/29 2015191965 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/9/29 2019095135 特許 レーザー加工領域の確認装置及び確認方法
2015/9/8 2015176218 特許 ウェーハ研磨装置
2015/9/8 2021093356 特許 ウェーハ研削方法及びウェーハ研削装置
2015/9/8 2019193134 特許 ウェーハ研削方法及びウェーハ研削装置
2015/9/2 2015172532 特許 寸法測定装置
2015/8/31 2015170352 特許 ダイシング方法及びダイシング装置
2015/8/27 2015167971 特許 非接触内面形状測定装置
2015/8/27 2015167973 特許 非接触内面形状測定装置
2015/8/26 2015166854 特許 距離測定装置及びその方法
2015/7/23 2015239268 特許 プロービング装置及びプローブコンタクト方法
2015/7/23 2015239269 特許 プロービング装置及びプローブコンタクト方法
2015/7/23 2015145989 特許 プロービング装置及びプローブコンタクト方法
2015/7/22 2016549809 特許 半導体ウェーハの検査装置及び半導体ウェーハの検査方法
2015/7/21 2015143772 特許 切断用ブレード及びその製造方法
2015/7/8 2015231816 特許 形状測定装置
2015/7/8 2015136998 特許 形状測定装置
2015/6/30 2015130664 特許 形状測定装置
2015/6/4 2018166920 特許 ワーク加工装置
2015/6/4 2017226580 特許 ワーク加工装置及びワーク加工方法
2015/6/4 2015114149 特許 ブレード加工装置及びブレード加工方法
2015/5/11 2015096459 特許 真円度測定装置及びその測定対象物固定治具
2015/5/11 2019082883 特許 測定装置及び固定治具
2015/4/8 2015079457 特許 ワーク加工装置
2015/3/31 2015072600 特許 光学式センサーの校正方法、及び三次元座標測定機
2015/3/31 2015070908 特許 ウェーハ位置決め検出装置、方法およびプログラム
2015/3/31 2015072599 特許 形状測定装置
2015/3/31 2015071528 特許 ウエハ搭載台の温度制御装置及び温度制御方法並びにプローバ
2015/3/31 2016197213 特許 形状測定装置及び形状測定方法
2015/3/31 2015070910 特許 研削砥石及びその製造方法並びに該研削砥石を備えた装置
2015/3/31 2015070909 特許 面取り基板の製造方法及びそれに用いられる面取り装置
2015/3/31 2016100699 特許 形状測定装置
2015/3/31 2021034996 特許 面取り基板の製造方法及びそれに用いられる面取り装置
2015/3/31 2015073439 特許 ワーク加工装置
2015/3/31 2015072601 特許 形状測定装置
2015/3/31 2015071527 特許 プローバ
2015/3/31 2015071935 特許 形状測定機、及びその制御方法
2015/3/30 2015069119 特許 ワーク加工装置
2015/3/30 2015069865 特許 非接触形状測定装置及び走査レンズ収差補正方法
2015/3/30 2015069271 特許 形状補正方法及び形状補正装置
2015/3/27 2018190958 特許 溝深さ検出装置及び溝深さ検出方法
2015/3/27 2015065703 特許 カーフ深さ測定装置
2015/3/26 2015065213 特許 面取り加工された基板及び液晶表示装置の製造方法
2015/3/25 2019108056 特許 研削加工装置
2015/3/25 2015062892 特許 研削加工装置
2015/3/25 2019022403 特許 筐体
2015/3/25 2015062888 特許 研削加工方法
2015/3/25 2015061986 特許 プローバ
2015/3/24 2018199867 特許 プローブカード型温度センサ及びウエハチャック温度測定方法
2015/3/24 2015060931 特許 プローバ及びウエハチャック温度測定方法
2015/3/24 2015060932 特許 プローブカード型温度センサ
2015/3/17 2015053168 特許 真空保持装置及びこれを用いた半導体ウェーハ研磨装置
2015/3/13 2015050335 特許 ブレード自動交換装置及びブレード自動交換方法
2015/3/13 2018195521 特許 ブレード着脱装置及びブレード着脱方法
2015/3/12 2015049384 特許 充放電試験システム、校正ユニットおよび校正方法
2015/3/12 2015049227 特許 レーザー加工装置及びレーザー加工方法
2015/3/9 2015045822 特許 ウェーハチャックの目詰まり検査装置及び検査方法
2015/2/27 2020009548 特許 洗浄装置
2015/2/27 2015039008 特許 ウェハ研磨装置
2015/2/27 2018245115 特許 移動制御装置及び位置決め制御方法
2015/2/27 2015037912 特許 プローバ及びプローブカードのプリヒート方法
2015/2/27 2015037769 特許 ダイシング装置及びダイシング装置用のテーブル
2015/2/27 2015037913 特許 半導体製造装置及びその位置決め制御方法
2015/2/27 2018192749 特許 洗浄装置
2015/2/27 2015039005 特許 洗浄装置
2015/2/27 2015037911 特許 表面形状測定装置のアライメント方法
2015/2/26 2015036024 特許 研削加工装置
2015/2/26 2015036122 特許 プローバ及びウェーハ剥離方法
2015/2/26 2018155591 特許 プローバ及びウェーハ剥離方法
2015/2/24 2015034301 特許 プローバ
2015/2/18 2015029536 特許 測定機の校正方法及び校正用ゲージユニット
2015/2/18 2015029537 特許 プローブ装置
2015/2/17 2015028569 特許 ウエハの受け渡し装置及び方法
2015/1/30 2019038067 特許 ウェハ研削装置
2015/1/30 2015016601 特許 ウェハ研削装置及びウェハ研削方法
2015/1/30 2018232691 特許 三次元座標測定装置
2015/1/30 2015016244 特許 三次元座標測定装置
2015/1/30 2019037559 特許 収容ボックスシステム、収容ボックス及び中継ボックス
2015/1/30 2015016873 特許 収容ボックスシステム
2015/1/28 2015014326 特許 レーザーダイシング装置
2015/1/28 2015014321 特許 レーザーダイシング装置
2015/1/28 2015014384 特許 移設検知装置
2015/1/28 2015014383 特許 真円度測定装置
2015/1/28 2015014322 特許 レーザーダイシング装置
2015/1/28 2018245113 特許 レーザーダイシング装置
2015/1/28 2018080685 特許 レーザーダイシング装置
2015/1/28 2015014324 特許 レーザーダイシング装置及びダイシング方法
2015/1/28 2018080686 特許 位置検出装置
2015/1/28 2016103576 特許 真円度測定装置
2015/1/27 2015013527 特許 干渉計測装置及び干渉計測方法
2015/1/23 2015010979 特許 形状測定装置
2014/12/22 2014258420 特許 干渉計
2014/12/10 2014249991 特許 ウェハ分割方法及びウェハ分割装置
2014/12/3 2014244650 特許 ウェハ研削装置
2014/11/18 2014233684 特許 測定装置
2014/11/18 2014233260 特許 外径測定装置及び内径測定装置
2014/11/17 2014232431 特許 形状測定装置及び方法
2014/11/17 2014232721 特許 形状測定機及び形状測定方法
2014/10/22 2014088872 商標 Ｏｐｔ－Ｓｃｏｐｅ
2014/10/20 2014213454 特許 表面形状測定装置における測定対象物アライメント方法及び表面形状測定装置
2014/10/16 2014211935 特許 計測システム、タッチプローブ、及び受信ユニット
2014/10/16 2017041712 特許 計測システム
2014/10/16 2018178869 特許 計測システム
2014/10/6 2019186920 特許 撮像装置及び加工制御システム
2014/10/6 2018245114 特許 撮像装置
2014/10/6 2014205913 特許 ダイシング装置
2014/9/26 2014196312 特許 表面粗さ測定機
2014/9/16 2014188132 特許 ウェハプローバ装置
2014/8/26 2015534227 特許 ダイシングブレード
2014/7/22 2014148950 特許 距離測定装置、及び距離測定方法
2014/7/22 2014148873 特許 距離測定装置、及び距離測定方法
2014/7/15 2014145076 特許 多点距離測定装置及び方法並びに形状測定装置
2014/7/15 2014145263 特許 ３次元座標測定装置及び３次元座標測定方法
2014/7/10 2019055577 特許 距離測定装置、および距離測定方法
2014/7/10 2014142561 特許 距離測定装置、および距離測定方法
2014/7/5 2014139215 特許 距離測定装置及び距離測定方法
2014/6/12 2014121121 特許 多点距離測定装置及び形状測定装置
2014/5/22 2014106204 特許 三次元測定機、及びこれを用いた形状測定方法
2014/4/25 2015506425 特許 形状測定機
2014/4/25 2015040964 特許 形状測定・校正装置
2014/4/25 2015149953 特許 形状測定・校正装置
2014/4/25 2015149955 特許 形状測定機
2014/4/25 2015149954 特許 形状測定機
2014/4/25 2015224462 特許 形状測定・校正装置
2014/4/11 2014082281 特許 充放電試験装置の校正ユニット
2014/3/31 2014072620 特許 ３次元座標測定装置及び方法、並びに校正装置
2014/3/31 2014073356 特許 ウエハマーキング・研削装置及びウエハマーキング・研削方法
2014/3/31 2014071515 特許 距離測定システム、距離測定装置、及び距離測定方法
2014/3/31 2014073010 特許 温度測定装置及び温度測定方法
2014/3/28 2019021486 特許 半導体製造装置及び半導体の製造方法
2014/3/28 2014067433 特許 半導体製造装置及び半導体の製造方法
2014/3/28 2014067440 特許 半導体製造装置及び半導体の製造方法
2014/3/14 2014051832 特許 測定機の校正方法及びその装置
2014/3/14 2015093577 特許 双方向変位検出器
2014/3/14 2014052678 特許 双方向変位検出器
2014/3/11 2014048215 特許 電池用ケースのうねり検査方法
2014/3/7 2014044817 特許 通電チャッキング耐久試験装置
2014/3/6 2014043982 特許 レーザーダイシング装置及びレーザーダイシング方法
2014/3/5 2014042246 特許 コンタクト位置制御方法
2014/3/3 2014040200 特許 ２色干渉計測装置
2014/2/27 2014037154 特許 光学式エンコーダ
2014/2/20 2014030408 特許 光信号生成装置、距離測定装置、分光特性測定装置、周波数特性測定装置及び光信号生成方法
2014/2/19 2017248771 特許 半導体の製造方法及び半導体製造装置
2014/2/19 2014029117 特許 半導体の製造方法及び半導体製造装置
2014/2/19 2015502881 特許 プローブ装置のアライメント支援装置及びアライメント支援方法
2014/2/19 2016100698 特許 プローブ装置及びプローブ方法
2014/2/19 2015502880 特許 プローブ装置
2014/2/19 2015202942 特許 プローブ装置
2014/2/19 2016025931 特許 プローブ装置及びプローブ方法
2014/2/14 2014026369 特許 接触抵抗測定システム
2014/2/5 2014020717 特許 距離測定装置、及び距離測定方法
2014/1/31 2017093284 特許 プローバ
2014/1/31 2014016286 特許 プローバ
2014/1/27 2014011978 特許 ウエハ研削装置及びウエハ製造方法
2014/1/23 2014010431 特許 ステージの位置制御装置及び方法
2014/1/23 2017133488 特許 ステージの位置制御装置
2014/1/22 2014009617 特許 ウェハ研磨装置
2014/1/21 2014008441 特許 切削装置
2014/1/21 2017172194 特許 液体カーテン形成装置
2014/1/7 2014000510 商標 Ｏｐｔ－ｍｅａｓｕｒｅ
2013/12/25 2013267186 特許 ウェーハ研磨装置
2013/12/18 2013261483 特許 電鋳ブレード
2013/12/18 2013261235 特許 接触不良を検出する充放電試験装置
2013/12/16 2017179996 特許 ウェーハ受け渡し装置
2013/12/16 2013258955 特許 ウェーハ搬送システム
2013/12/16 2013258956 特許 ウェーハ受け渡し装置
2013/12/16 2013258954 特許 レーザダイシング方法
2013/12/10 2013254597 特許 プローバシステム
2013/11/29 2013247789 特許 ３次元測定機
2013/11/29 2019006690 特許 ３次元測定機
2013/11/29 2018001758 特許 ３次元測定機
2013/11/27 2013245279 特許 ダイシング装置及びその切削方法
2013/11/26 2013244104 特許 基板の洗浄方法及び洗浄装置
2013/11/21 2013240885 特許 プローバ
2013/11/21 2013091273 商標 ドレスプレート＼ＤＲＥＳＳＰＬＡＴＥ
2013/11/21 2013091272 商標 ドレッサープレート＼ＤＲＥＳＳＥＲＰＬＡＴＥ
2013/11/19 2013239190 特許 切断用ブレード及びその製造方法
2013/11/19 2013238691 特許 光学式エンコーダ
2013/11/15 2017105338 特許 目立て用工具
2013/11/15 2013237289 特許 切断用ブレード
2013/11/15 2013237302 特許 目立て用工具
2013/11/15 2017081451 特許 切断用ブレード
2013/11/12 2013234248 特許 ダイシング装置及びその切削方法
2013/11/8 2013231644 特許 半導体基板の研削装置
2013/10/23 2013220599 特許 ダイシング装置
2013/10/18 2013217444 特許 電子デバイスのプロービング装置及びプロービング方法
2013/10/18 2015035859 特許 電子デバイスのプロービング装置及びプロービング方法
2013/10/11 2017131976 特許 レーザ周波数安定化方法及びその装置
2013/10/11 2013213752 特許 レーザ周波数安定化方法及びその装置
2013/10/11 2013213751 特許 ２波長正弦波位相変調干渉計
2013/10/10 2013212978 特許 三次元測定機を用いた円測定方法
2013/10/10 2017136262 特許 三次元測定機を用いた円測定方法
2013/10/9 2013211894 特許 ダイシング装置
2013/9/26 2013200288 特許 真円度測定装置
2013/9/24 2013197241 特許 真円度測定機
2013/9/20 2013195580 特許 レーザーダイシング装置及びレーザーダイシング方法
2013/9/20 2018005718 特許 レーザーダイシング装置及びレーザーダイシング方法
2013/9/19 2013193870 特許 非接触計測装置
2013/9/13 2013190629 特許 切削ブレードのツルーイング方法及び装置
2013/9/11 2013187937 特許 測定機の昇降装置
2013/9/11 2017034705 特許 昇降装置
2013/9/5 2013069307 商標 Ｓｕｒｆｃｏｍ　Ｃｒｅｓｔ
2013/9/3 2013182305 特許 充放電試験装置
2013/8/19 2013169674 特許 自動清掃ユニット及び充放電試験システム
2013/8/14 2013168586 特許 プローブ装置及びプローブ方法
2013/8/13 2013168196 特許 イオン抽出装置及びイオン抽出方法
2013/8/6 2013163030 特許 レーザトラッカ
2013/7/19 2013056037 商標 ＶＥＧＡＤＢ
2013/6/29 2013137616 特許 エンコーダ
2013/6/14 2015096460 特許 ダイシング装置及びダイシング方法
2013/6/12 2018216208 特許 ウエハ面取り装置
2013/6/12 2013124243 特許 ウエハ面取り装置
2013/5/30 2013113970 特許 ワーク分割装置及びワーク分割方法
2013/5/28 2013112252 特許 ウェーハの検査方法
2013/5/24 2013109713 特許 温度制御装置
2013/5/24 2017081990 特許 温度制御装置
2013/5/24 2013110113 特許 ウェーハ研磨装置
2013/4/24 2014505300 特許 ダイシングブレード
2013/4/24 2014236666 特許 ダイシングブレード
2013/4/24 2015112414 特許 ダイシングブレード
2013/4/24 2015018699 特許 ダイシングブレード
2013/4/15 2016253763 特許 エッジ検出装置
2013/4/15 2013084651 特許 エッジ検出装置
2013/4/11 2017128895 特許 三次元測定機
2013/4/11 2013083128 特許 測定機、及び、測定機の移動ガイド機構
2013/4/11 2020009852 特許 三次元測定機
2013/4/11 2018154107 特許 三次元測定機
2013/3/27 2013067324 特許 半導体ウエハマッピング方法及び半導体ウエハのレーザ加工方法
2013/3/25 2013061586 特許 白色干渉測定方法及び白色干渉測定装置
2013/3/4 2013042106 特許 充放電試験システムおよび校正ユニット
2013/2/25 2016253764 特許 エッジ検出装置
2013/2/25 2013034503 特許 エッジ検出装置
2013/2/22 2013032983 特許 充放電試験システム
2013/2/12 2013558688 特許 回転角度測定装置及び回転角度測定方法
2013/2/12 2017023932 特許 回転角度測定装置及び回転角度測定方法
2013/2/12 2013024486 特許 回転角度測定装置及び回転角度測定方法
2013/2/1 2015022009 特許 位置決め固定装置
2013/2/1 2013018213 特許 プローバ及びプローブ検査方法
2013/2/1 2014250650 特許 測定装置及び測定方法

株式会社東京精密の政府届出情報

  • 経済産業省
    ＰＲＴＲ：精密機械器具製造業
近隣（東京都八王子市）の法人情報
  • 株式会社ｃｌｉｍｂ
    株式会社ｃｌｉｍｂの所在地は東京都八王子市滝山町２丁目５０３番地１で、2024-04-25に法人番号：5010101016113が指定されました。
  • 合同会社はちまる
    合同会社はちまるの所在地は東京都八王子市横山町１２番１０号で、2024-04-25に法人番号：1010103002346が指定されました。
  • 一般社団法人ＳＡＬＭＯ
    一般社団法人ＳＡＬＭＯの所在地は東京都八王子市狭間町１４６２番地５タウンズ八王子Ｆ１３２７号で、2022-02-01に法人番号：3010105002144が指定されました。
  • 株式会社眞こちゃん
    株式会社眞こちゃんの所在地は東京都八王子市中野上町４丁目４２番地７号ハイム井上１０１で、2021-07-06に法人番号：6010101014751が指定されました。
  • ＴＨＥ　ＫＩＭ合同会社
    ＴＨＥ　ＫＩＭ合同会社の所在地は東京都八王子市石川町１７７０－２で、2019-12-10に法人番号：3010103001478が指定されました。
  • 株式会社プリメロ
    株式会社プリメロの所在地は東京都八王子市打越町２００６番地１クリオ北野３０２号で、2015-10-05に法人番号：8010101011813が指定されました。
  • 特定非営利活動法人らくだの夢グループ
    特定非営利活動法人らくだの夢グループの所在地は東京都八王子市寺田町４３２グリーンヒル寺田１０１－１０５で、2015-10-05に法人番号：5010105000708が指定されました。
  • 八王子みなみ野リトヒルズ団地管理組合法人
    八王子みなみ野リトヒルズ団地管理組合法人の所在地は東京都八王子市みなみ野５丁目２８番１２９号で、2024-04-24に法人番号：9010105002262が指定されました。
  • 株式会社ソフトウェア統一理論研究所
    株式会社ソフトウェア統一理論研究所の所在地は東京都八王子市元横山町２－１－８－３０１番地で、2023-07-27に法人番号：4021001079687が指定されました。
  • 株式会社ＣＲＥＡＣＩＯＮ・ＤＥ・ＶＡＬＯＲ
    株式会社ＣＲＥＡＣＩＯＮ・ＤＥ・ＶＡＬＯＲの所在地は東京都八王子市緑町９４４番地１で、2021-04-09に法人番号：7021001072631が指定されました。
  •  近隣（東京都八王子市）の法人情報をもっと見る
法人検索
東京都の登記新設・閉鎖法人
法人一覧表示
4月26日 に新設された八王子市の法人
4月26日 に新設された東京都の法人
4月の東京都法人アクセスランキング
PAGE TOP ▲