株式会社リガク - 東京都昭島市

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株式会社リガクの基本データ

商号又は名称 株式会社リガク
商号又は名称（フリガナ） リガク
商号又は名称（英語表記） Rigaku Corporation
法人番号 5012801002680
法人種別 株式会社
都道府県 東京都
市区町村 昭島市
郵便番号 〒1960003
登記住所 東京都昭島市松原町３丁目９番１２号
国内所在地（英語表記） 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima shi Tokyo
最寄り駅 JR青梅線ほか 拝島駅 0.6km 徒歩9分以上
登録年月日 2022/07/01
更新年月日 2022/07/25
更新区分 吸収合併
更新事由 令和４年７月１日山梨県北杜市須玉町若神子字大小久保４４９５番地８株式会社リガク山梨（1090001011722）を合併
概要 株式会社リガクの法人番号は5012801002680です。
株式会社リガクの法人種別は"株式会社"です。
商号又は名称のヨミガナはリガク です。
また商号又は名称の英語表記はRigaku Corporation となります。
登記上の所在地は、2022/07/25現在 〒1960003 東京都昭島市松原町３丁目９番１２号 となっています。
また、国内所在地の英語表記は 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima shi Tokyo になります。
"JR青梅線ほか 拝島駅 0.6km 徒歩9分以上" が最寄り駅の情報となります。
位置情報：東京都昭島市松原町３丁目９番１２号

株式会社リガク周辺の天気情報

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05/03 22:05現在0（mm/h） 05/03 23:05予測0（mm/h）
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同名法人の情報あり

 "株式会社リガク" の名称を含む法人を探す

変更履歴

  • 2022-01-11  [ 吸収合併 ]
    令和４年１月１日東京都昭島市松原町三丁目９番１２号理学メカトロニクス株式会社（1012801002684）を合併令和４年１月１日大阪府高槻市赤大路町１４番８号理学サービス株式会社（9120901012296）を合併
  • 2015-10-05  [ 新規 ]
    株式会社リガク［東京都昭島市松原町３丁目９番１２号］の法人番号が新規登録されました。

株式会社リガクの法人詳細データ

代表者名 川上　潤
法人名ふりがな りがく
従業員数 738人
設立年月日 1951年12月6日
事業概要 精密理化学機器の製造、販売
事業項目 118,218,306,309,315

株式会社リガクの職場データ

平均勤続年数（男女） 男性：23年 女性：23年

株式会社リガクの特許情報  199件

出願年月日 出願番号 特許分類 タイトル
2022/9/21 2022108680 商標 Ｒｉｇａｋｕ　ＳｕｒｅＤＩ
2022/9/21 2022108679 商標 ＳｕｒｅＤＩ
2022/9/16 2022107398 商標 ＵＬＴＧＡ
2022/8/19 2022017715 意匠 発生ガス分析装置用インターフェース
2022/8/19 2022017714 意匠 発生ガス分析装置用インターフェース
2022/4/26 2022048131 商標 χ　ｓｅｎｓｏｒ
2022/4/26 2022048132 商標 Δ　Ｂｌｏｃｋ
2022/4/8 2022040618 商標 ＳＡＸＳ３ＤＭ
2021/8/24 2021136599 特許 Ｘ線分析装置及び波高値予測プログラム
2021/7/9 2021086233 商標 ＭｉｎｉＦｌｅｘ
2021/6/16 2021074595 商標 Ｒｉｇａｋｕ　Ｏｘｆｏｒｄ　Ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ
2021/6/16 2021074596 商標 §Ｒｉｇａｋｕ＼ｏｘｆｏｒｄ　ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ
2021/6/8 2021095721 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2021/5/12 2021009877 意匠 試料台
2021/5/12 2021009878 意匠 試料台
2021/5/12 2021009876 意匠 試料台
2021/3/9 2021027373 商標 Ｖｕｌｌｉｏｓ
2021/2/24 2021021138 商標 ＮＡＮＯＰＩＸ
2021/1/12 2021002548 商標 ｖｅｓｔａｅｙｅ
2020/12/1 2020199366 特許 全反射蛍光Ｘ線分析装置
2020/11/30 2020198816 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2020/11/30 2021520628 特許 エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置、評価方法及び評価プログラム
2020/10/30 2020182991 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2020/10/30 2020182990 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2020/9/11 2020153302 特許 蛍光Ｘ線分析装置用のガラスビードを作製する方法
2020/9/3 2020148517 特許 全反射蛍光Ｘ線分析装置及び推定方法
2020/6/19 2020105825 特許 蛍光Ｘ線分析装置、判定方法及び判定プログラム
2020/6/15 2020103349 特許 蛍光Ｘ線分析装置、及び、蛍光Ｘ線分析装置の制御方法
2020/5/18 2020086629 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2020/3/6 2020024553 商標 ＸＳＰＡ
2020/3/2 2020022208 商標 ＤＤ　Ｍｅｔｈｏｄ
2020/3/2 2020022206 商標 ＤＤ法
2020/3/2 2020022207 商標 Ｄｉｒｅｃｔ　Ｄｅｒｉｖａｔｉｏｎ　Ｍｅｔｈｏｄ
2020/2/12 2020021771 特許 定量分析方法、定量分析プログラム及び蛍光Ｘ線分析装置
2020/1/15 2020004172 特許 Ｘ線分析装置、Ｘ線分析方法、及びＸ線分析プログラム
2020/1/8 2021508782 特許 透過型小角散乱装置
2019/12/27 2019239494 特許 散乱測定解析方法、散乱測定解析装置、及び散乱測定解析プログラム
2019/11/21 2020557646 特許 単結晶Ｘ線構造解析装置とそのための方法
2019/11/21 2020557645 特許 単結晶Ｘ線構造解析装置と方法、そのための試料ホルダ及びアプリケータ
2019/11/21 2020557647 特許 単結晶Ｘ線構造解析試料の吸蔵装置及び吸蔵方法
2019/11/21 2020557644 特許 単結晶Ｘ線構造解析装置および試料ホルダ取り付け装置
2019/11/20 2019209361 特許 熱分析装置と電気炉の制御方法
2019/10/24 2019193745 特許 処理装置、システム、Ｘ線測定方法およびプログラム
2019/10/3 2019183293 特許 Ｘ線測定装置およびシステム
2019/9/26 2019175938 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2019/9/20 2019171559 特許 定量分析方法、定量分析プログラム、及び、蛍光Ｘ線分析装置
2019/9/17 2019122057 商標 ｓｃａｎＸ　Ｄｉｓｃｏｖｅｒ
2019/9/17 2019122061 商標 Ｄ／ｔｅＸ
2019/9/17 2019122059 商標 ｎａｎｏ３ＤＸ
2019/9/17 2019122056 商標 ＤＲ－Ｌａｂ
2019/9/17 2019122058 商標 ＣＴ　Ｌａｂ
2019/9/17 2019122060 商標 ＨｙＰｉｘ－Ａｒｃ
2019/9/17 2019122054 商標 ＳｔｅｌｌａＳｃａｎ
2019/9/17 2019122055 商標 ＣｏｓｍｏＳｃａｎ
2019/9/2 2019116505 商標 ＣｒｙｓＡｌｉｓＰｒｏ
2019/9/2 2019116506 商標 ＮＡＮＯ－Ｓｏｌｖｅｒ
2019/9/2 2019116503 商標 ＸＲＴｍｉｃｒｏｎ
2019/9/2 2019116502 商標 ＰｈｏｔｏｎＪｅｔ
2019/9/2 2019116501 商標 ＰｈｏｔｏｎＭＡＸ
2019/9/2 2019116504 商標 ＡｕｔｏＣｈｅｍ
2019/8/26 2019153564 特許 ガラスビード作製装置に用いられる試料カップ及び試料カップセット
2019/8/16 2019149383 特許 Ｘ線分析用試料保持装置
2019/5/10 2019067009 商標 ＸＴＲＡＩＡ
2019/4/25 2019061008 商標 ＸＨＥＭＩＳ
2019/4/22 2019081350 特許 微細構造の解析方法、装置およびプログラム
2019/4/22 2019081274 特許 微細構造の解析方法、装置およびプログラム
2019/4/12 2019076098 特許 Ｘ線解析、Ｘ線回折データを処理する方法及び装置
2019/4/11 2019075312 特許 投影像の撮影方法、制御装置、制御プログラム、処理装置および処理プログラム
2019/3/29 2019065572 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2019/3/26 2019059179 特許 多結晶金属材料の劣化診断方法、装置およびシステム
2019/3/26 2019059183 特許 ニッケル基超合金の劣化診断方法、装置およびシステム
2019/3/19 2019050689 特許 Ｘ線分析装置
2019/3/4 2019038908 特許 放射線検出器および放射線検出方法
2019/2/26 2020518996 特許 グラフェン前駆体の判別方法、判別装置および判別プログラム
2018/12/6 2018229343 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2018/11/27 2018221141 特許 Ｘ線信号処理装置及びＸ線分析装置
2018/9/28 2018183775 特許 測定装置、プログラム及び測定装置の制御方法
2018/9/26 2018180385 特許 Ｘ線発生装置、及びＸ線分析装置
2018/9/5 2019562739 特許 Ｘ線検査装置
2018/8/9 2018149950 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2018/7/9 2018130133 特許 Ｘ線分析システム、Ｘ線分析装置及び気相分解装置
2018/7/2 2018126106 特許 Ｘ線検出器及び当該Ｘ線検出器の制御方法
2018/6/29 2018125106 特許 Ｘ線分析装置及びその光軸調整方法
2018/6/28 2018122759 特許 バックグラウンド除去方法及び蛍光Ｘ線分析装置
2018/6/21 2018118215 特許 蛍光Ｘ線分析システム
2018/6/6 2018108555 特許 Ｘ線回折装置及びアタッチメント装置
2018/5/18 2019535610 特許 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム
2018/4/9 2018044542 商標 ＧＧ　Ｉｎｄｅｘ
2018/4/2 2018071024 特許 非晶質相の定量分析装置、非晶質相の定量分析方法、及び非晶質相の定量分析プログラム
2018/3/20 2018052056 特許 Ｘ線回折装置
2018/3/14 2019506226 特許 蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析プログラムおよび蛍光Ｘ線分析装置
2018/3/13 2018045083 特許 蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析装置またはプログラム
2018/3/1 2018036208 特許 Ｘ線発生装置、及びＸ線分析装置
2018/2/22 2018534899 特許 試料回収装置、試料回収方法、及びこれらを用いた蛍光Ｘ線分析装置
2018/2/5 2018002175 意匠 エックス線分析機
2018/1/25 2019508623 特許 Ｘ線分析補助装置及びＸ線分析装置
2017/11/21 2018526963 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2017/11/14 2018553750 特許 Ｘ線反射率測定装置
2017/11/14 2017219360 特許 Ｘ線光学デバイス
2017/10/25 2017206176 特許 ソーラースリット、Ｘ線回折装置および方法
2017/10/17 2017201173 特許 処理装置、方法およびプログラム
2017/10/6 2017196262 特許 試料の分析方法
2017/9/29 2017190201 特許 Ｘ線分析用信号処理装置及びＸ線分析用信号処理装置の調整方法
2017/9/20 2017125721 商標 §Ｒ（マル）∞Ｒｉｇａｋｕ
2017/9/20 2017125718 商標 §Ｒｉｇａｋｕ
2017/9/20 2017125720 商標 §Ｒ（マル）
2017/9/20 2017125719 商標 リガク
2017/9/20 2017179706 特許 基板汚染分析システム
2017/9/5 2017170242 特許 Ｘ線発生装置
2017/8/31 2018542027 特許 波長分散型蛍光Ｘ線分析装置およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法
2017/8/29 2017164269 特許 Ｘ線回折測定における測定結果の表示方法
2017/8/22 2017159592 特許 蛍光Ｘ線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光Ｘ線分析装置用の試料の作製方法
2017/7/27 2017144988 特許 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法
2017/7/14 2018528519 特許 複合検査システム
2017/7/12 2018527625 特許 Ｘ線検査装置、Ｘ線薄膜検査方法およびロッキングカーブ測定方法
2017/7/5 2018547117 特許 検出器
2017/6/21 2017083064 商標 ＤＳＣｖｅｓｔａ
2017/6/21 2017083063 商標 ＤＳＣｖｅｓｔａ
2017/5/26 2017104370 特許 熱分析装置
2017/5/12 2017010144 意匠 示差走査熱量計
2017/4/14 2017008053 意匠 熱分析装置用試料加熱炉
2017/2/15 2018500161 特許 解析装置、解析方法および解析プログラム
2016/12/22 2017541896 特許 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム
2016/10/7 2016199046 特許 試料の分析方法
2016/9/30 2016194356 特許 波長分散型蛍光Ｘ線分析装置
2016/8/26 2017537854 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2016/8/26 2017537853 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2016/8/26 2016093432 商標 ＸｔａｌＣｈｅｃｋ
2016/8/18 2016160316 特許 Ｘ線回折装置
2016/7/21 2016078271 商標 Ｓｉｍｕｌｔｉｘ
2016/7/1 2017520570 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2016/6/24 2016125248 特許 処理方法、処理装置および処理プログラム
2016/6/15 2016118860 特許 Ｘ線回折装置
2016/6/8 2017536641 特許 熱分析装置
2016/5/24 2016103750 特許 結晶相同定方法、結晶相同定装置、及びＸ線回折測定システム
2016/5/18 2016053868 商標 §ＥａｓｙＸ
2016/5/18 2016053867 商標 ＥａｓｙＸ
2016/5/18 2016053869 商標 ＥＺＸ
2016/5/18 2016053870 商標 §ＥＺＸ
2016/5/18 2016099916 特許 Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム
2016/4/13 2016042208 商標 §ＸｔａＬＡＢ＼Ｓｙｎｅｒｇｙ
2016/4/13 2016042207 商標 ＸｔａＬＡＢ　Ｓｙｎｅｒｇｙ
2016/3/30 2016068998 特許 蛍光Ｘ線分析装置および蛍光Ｘ線分析方法
2016/3/17 2016053760 特許 放射線画像生成装置
2016/3/8 2016044179 特許 多元素同時型蛍光Ｘ線分析装置および多元素同時蛍光Ｘ線分析方法
2016/1/7 2016001730 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2015/10/6 2015198890 特許 骨塩密度の解析装置、解析方法および解析プログラム
2015/10/2 2016550291 特許 斜入射蛍光Ｘ線分析装置および方法
2015/9/18 2015184671 特許 Ｘ線ＣＴ装置
2015/9/18 2015186004 特許 応力解析装置、方法およびプログラム
2015/9/15 2015089285 商標 ＸｔａＬＡＢ
2015/9/11 2015179651 特許 Ｘ線小角光学系装置
2015/8/27 2015167856 特許 放射線画像生成装置
2015/8/18 2016547797 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線分析装置
2015/8/18 2016547798 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線分析装置
2015/8/6 2015155827 特許 Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム
2015/7/24 2015146656 特許 ピンホール・スリット体の製造方法、及びＸ線小角散乱測定装置
2015/7/24 2015146528 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2015/7/10 2016555103 特許 データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム
2015/6/24 2015127043 特許 Ｘ線データ処理装置、その方法およびプログラム
2015/6/24 2015127041 特許 Ｘ線データ処理装置、その方法およびプログラム
2015/5/14 2016531176 特許 蛍光Ｘ線分析装置および方法
2015/5/11 2015096316 特許 Ｘ線発生装置、及びその調整方法
2015/4/13 2015081884 特許 蛍光Ｘ線分析システム
2015/3/30 2015069710 特許 ＣＴ画像処理装置および方法
2015/3/26 2015063764 特許 二重湾曲Ｘ線集光素子およびその構成体、二重湾曲Ｘ線分光素子およびその構成体の製造方法
2015/2/2 2016510094 特許 ビーム生成ユニットおよびＸ線小角散乱装置
2014/10/14 2016553774 特許 Ｘ線薄膜検査装置
2014/10/14 2016553775 特許 Ｘ線薄膜検査装置
2014/9/18 2014190249 特許 Ｘ線分析装置
2014/9/11 2014185352 特許 Ｘ線分析装置の光軸調整方法及びＸ線分析装置
2014/9/11 2014185353 特許 Ｘ線分析装置の光軸調整装置
2014/8/22 2014169775 特許 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
2014/7/23 2014149421 特許 Ｘ線検出信号処理装置およびそれを用いたＸ線分析装置
2014/6/5 2014116488 特許 Ｘ線回折装置
2014/4/11 2014028425 商標 ＳｍａｒｔＬａｂ　Ｓｔｕｄｉｏ
2014/4/10 2014028053 商標 ＳｍａｒｔＬａｂ
2014/2/12 2014024745 特許 構造精密化装置、方法およびプログラム
2014/1/31 2014006967 商標 ＳｍａｒｔＳｉｔｅ
2014/1/31 2014006966 商標 ＳｍａｒｔＳｉｔｅ
2014/1/30 2014016100 特許 画像処理方法および画像処理装置
2013/12/24 2013265312 特許 磁性流体シール装置
2013/12/2 2013094325 商標 ＳＥＡＲＣＨ！∞Ｒｅ
2013/11/28 2013246533 特許 Ｘ線トポグラフィ装置
2013/11/26 2013243506 特許 Ｘ線回折装置およびＸ線回折測定方法
2013/11/22 2013242291 特許 補正情報生成方法および補正情報生成装置
2013/11/15 2013237225 特許 放射線検出器、これを用いたＸ線分析装置および放射線検出方法
2013/8/22 2013172085 特許 Ｘ線ＣＴ装置
2013/8/19 2013169431 特許 熱機械分析装置
2013/6/24 2013131410 特許 単結晶基板の反り測定方法及び測定装置
2013/6/20 2013129483 特許 Ｘ線分析装置用試料ホルダ、Ｘ線分析装置用アタッチメント及びＸ線分析装置
2013/5/14 2013101900 特許 蛍光Ｘ線分析装置
2013/4/17 2013086305 特許 Ｘ線光学部品装置及びＸ線分析装置
2013/4/17 2013086740 特許 Ｘ線回折装置、Ｘ線回折測定方法および制御プログラム
2013/3/28 2013006892 意匠 動物用エックス線断層撮影機
2013/3/28 2013006891 意匠 動物用エックス線断層撮影機
2013/3/14 2013052338 特許 結晶相同定方法、結晶相同定装置、及び結晶相同定プログラム
2013/2/19 2013029782 特許 Ｘ線データ処理装置、Ｘ線データ処理方法およびＸ線データ処理プログラム
2013/1/18 2013007385 特許 Ｘ線複合装置

株式会社リガクの政府届出情報

  • 総務省   〜2019-03-31
    精密機器類,精密機器類,ソフトウェア開発,建物管理等各種保守管理,その他：物品の製造（その他）
近隣（東京都昭島市）の法人情報
  • 合同会社Ｄｅｌｉｇｈｔ
    合同会社Ｄｅｌｉｇｈｔの所在地は東京都昭島市郷地町３丁目７番８－２０４号で、2024-05-02に法人番号：2012803003382が指定されました。
  • 株式会社おかだ屋
    株式会社おかだ屋の所在地は東京都昭島市東町４丁目８番４－９号で、2024-05-01に法人番号：5012801023140が指定されました。
  • 株式会社ＩＨＩジェットサービス
    株式会社ＩＨＩジェットサービスの所在地は東京都昭島市拝島町３９７５番地１８で、2015-10-05に法人番号：5012801007003が指定されました。
  • つばさモビリティ株式会社
    つばさモビリティ株式会社の所在地は東京都昭島市美堀町４丁目３番１号で、2015-10-05に法人番号：8012801003073が指定されました。
  • 株式会社カーライフサービス多摩車両
    株式会社カーライフサービス多摩車両の所在地は東京都昭島市美堀町４丁目３番１号で、2015-10-05に法人番号：9012801001984が指定されました。
  • 株式会社光カンパニー
    株式会社光カンパニーの所在地は東京都昭島市松原町５丁目８番１７号亀田ビル１０１で、2015-10-05に法人番号：1012801009531が指定されました。
  • 有限会社石井工業
    有限会社石井工業の所在地は東京都昭島市緑町４丁目２０番２４号で、2015-10-05に法人番号：4012802002706が指定されました。
  • 桃之夭夭庵合同会社
    桃之夭夭庵合同会社の所在地は東京都昭島市上川原町１丁目９番３－２１７号で、2024-04-23に法人番号：8012803003369が指定されました。
  • 有限会社ツボタ
    有限会社ツボタの所在地は東京都昭島市東町５丁目９番１２号で、2015-10-05に法人番号：7012802003437が指定されました。
  • 株式会社ＳＹメディカルコーポレーション
    株式会社ＳＹメディカルコーポレーションの所在地は東京都昭島市田中町１丁目２４番１３号で、2015-10-05に法人番号：7012801009435が指定されました。
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