アンリツ株式会社 - 神奈川県厚木市

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アンリツ株式会社の基本データ

商号又は名称 アンリツ株式会社
商号又は名称（フリガナ） アンリツ
商号又は名称（英語表記） ANRITSU CORPORATION
法人番号 2021001021865
法人種別 株式会社
都道府県 神奈川県
市区町村 厚木市
郵便番号 〒2430032
登記住所 神奈川県厚木市恩名５丁目１番１号
国内所在地（英語表記） 5-1-1 Onna, Atsugi-shi Kanagawa
最寄り駅 小田急小田原線 本厚木駅 2.1km 徒歩30分以上
登録年月日 2020/04/03
更新年月日 2020/06/12
更新区分 吸収合併
更新事由 令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号アンリツネットワークス株式会社（2021001021568）を合併令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号アンリツエンジニアリング株式会社（4021001019362）を合併令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号株式会社アンリツプロアソシエ（9021001021859）を合併
概要 アンリツ株式会社の法人番号は2021001021865です。
アンリツ株式会社の法人種別は"株式会社"です。
商号又は名称のヨミガナはアンリツ です。
また商号又は名称の英語表記はANRITSU CORPORATION となります。
登記上の所在地は、2020/06/12現在 〒2430032 神奈川県厚木市恩名５丁目１番１号 となっています。
また、国内所在地の英語表記は 5-1-1 Onna, Atsugi-shi Kanagawa になります。
"小田急小田原線 本厚木駅 2.1km 徒歩30分以上" が最寄り駅の情報となります。
位置情報：神奈川県厚木市恩名５丁目１番１号

アンリツ株式会社周辺の天気情報

厚木市の予測雨量
04/30 15:05現在0（mm/h） 04/30 16:05予測0（mm/h）
神奈川県 横浜 の天気
今日 04月30日(火) 明日 05月01日(水)
曇り  曇り : 最高 24 ℃ 最低  - ℃ 曇のち雨  曇のち雨 : 最高 20 ℃ 最低 18 ℃
　東海道沖には低気圧があって東北東へ進んでおり、前線が日本の南にのびています。 　神奈川県は、曇りで雨の降っている所があります。 　３０日は、前線を伴った低気圧が本州南岸から関東の東へ進み、また、日本海から北海道付近へ進む低気圧からのびる寒冷前線が夜には東日本を通過する見込みです。このため、曇りで昼過ぎまで雨の降る所があるでしょう。 　５月１日は、気圧の谷や湿った空気の影響を受ける見込みです。このため、曇りで昼過ぎから雨となるでしょう。 　神奈川県の海上では、３０日から５月１日にかけて、多少波がある見込みです。
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変更履歴

  • 2020-04-03  [ 吸収合併 ]
    令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号アンリツネットワークス株式会社（2021001021568）を合併令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号アンリツエンジニアリング株式会社（4021001019362）を合併令和２年４月１日神奈川県厚木市恩名五丁目１番１号株式会社アンリツプロアソシエ（9021001021859）を合併
  • 2015-10-05  [ 新規 ]
    アンリツ株式会社［神奈川県厚木市恩名５丁目１番１号］の法人番号が新規登録されました。

アンリツ株式会社の株式上場データ

マーケット 東証一部
業種 電気機器
証券コード6754
上場年月日1961年10月
決算月3月末日

アンリツ株式会社の法人詳細データ

代表者名 代表取締役社長　　濱田　宏一
法人名ふりがな あんりつ
資本金 19,218,000,000円
従業員数 1,067人
企業規模 男性：1,634人  女性：359人
設立年月日 1950年10月6日
事業概要 電子計測器、精密計測機器、ＩＰネットワーク機器等の製造販売
事業項目 115,116,118,128,129,215,216,217,218,228,229,301,302,303,304,306,309,313,314,315,402
企業ホームページ  https://www.anritsu.com/

アンリツ株式会社の大株主の状況

企業名もしくは出資者 出資比率（％）
日本マスタートラスト信託銀行株式会社（信託口） 15.9
株式会社日本カストディ銀行（信託口） 6.9
住友生命保険相互会社 1.75
株式会社日本カストディ銀行・三井住友信託退給口 1.52
JP MORGAN CHASE BANK 385781 （常任代理人　株式会社みずほ銀行　決済営業部） 1.36
ＳＭＢＣ日興証券株式会社 1.29
STATE STREET BANK WEST CLIENT - TREATY 505234 （常任代理人　株式会社みずほ銀行　決済営業部） 1.26
JUNIPER　（常任代理人　株式会社三菱ＵＦＪ銀行　決済事業部） 1.14
STATE STREET BANKAND TRUST COMPANY 505223 （常任代理人　株式会社みずほ銀行　決済営業部） 1.08
三井住友海上火災保険株式会社 1.01

アンリツ株式会社の経営指標の推移

 当期 第97期（自　2022年４月１日　至　2023年３月31日）
当期（円）
売上高 69,224,000,000
経常利益又は経常損失（△） 12,054,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 9,955,000,000
資本金 19,218,000,000
純資産 103,820,000,000
総資産 134,637,000,000
従業員数 1,750 人
1期前（円）
売上高 73,580,000,000
経常利益又は経常損失（△） 15,394,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 18,604,000,000
資本金 19,189,000,000
純資産 104,139,000,000
総資産 141,413,000,000
従業員数 1,758 人
2期前（円）
売上高 59,622,000,000
経常利益又は経常損失（△） 15,098,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 13,727,000,000
資本金 19,171,000,000
純資産 96,420,000,000
総資産 128,902,000,000
従業員数 1,284 人
3期前（円）
売上高 56,963,000,000
経常利益又は経常損失（△） 12,784,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 10,353,000,000
資本金 19,151,000,000
純資産 87,547,000,000
総資産 133,436,000,000
従業員数 855 人
4期前（円）
売上高 46,866,000,000
経常利益又は経常損失（△） 8,151,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 6,970,000,000
資本金 19,113,000,000
純資産 80,516,000,000
総資産 126,327,000,000
従業員数 836 人

アンリツ株式会社の職場データ

平均勤続年数（男女） 男性：21年 女性：16年
労働者に占める女性労働者の割合 25%
管理職全体人数（男女計） 318人
女性管理職人数 8人
役員全体人数（男女計） 26人
女性役員人数 2人

アンリツ株式会社の特許情報  756件

出願年月日 出願番号 特許分類 タイトル
2021/9/9 2021146811 特許 波形観測装置及び透過特性取得方法
2021/9/6 2021144655 特許 エンファシス付加回路、エンファシス付加方法、それを用いた信号発生装置及び信号発生方法
2021/7/2 2021111026 特許 電波暗箱および該電波暗箱を用いた試験装置
2021/6/24 2021104533 特許 移動端末試験システム及び移動端末試験方法
2021/6/21 2021102417 特許 信号処理装置、及び信号処理方法
2021/6/18 2021101415 特許 移動端末試験システム及び移動端末試験方法
2021/6/9 2021096655 特許 電子機器用筐体
2021/5/27 2021089224 特許 電子機器用筐体
2021/4/1 2021063096 特許 光信号波形測定装置及び光信号波形測定方法
2021/3/31 2021060313 特許 信号資源情報管理装置、及び信号資源情報管理方法
2021/3/29 2021055787 特許 リットマン型分光器及び折り返しミラー
2021/3/26 2021054097 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2021/3/26 2021053247 特許 光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法
2021/3/26 2021053147 特許 コプレーナ線路とコネクタとの接続構造及び接続方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ
2021/3/26 2021053248 特許 光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法
2021/3/26 2021053246 特許 光スペクトラムアナライザ及び波長校正制御方法
2021/3/24 2021050262 特許 波形観測装置及び違反サンプルのシンボル推移の表示方法
2021/3/24 2021049883 特許 光測定器用光源装置および光スペクトラムアナライザ
2021/3/24 2021050263 特許 波形観測装置及びマスクマージンの計算方法
2021/3/24 2021049696 特許 ネットワーク測定装置とそのフレームロス測定方法
2021/3/23 2021049039 特許 スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2021/3/18 2021044316 特許 チップ実装構造及びチップ実装方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ
2021/3/16 2021042792 特許 短パルス発生回路及び短パルス発生方法、並びにそれを用いたサンプリングオシロスコープ
2021/3/9 2021037714 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2021/3/8 2021036205 特許 スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2021/3/5 2021026117 商標 §Ａｎｒｉｔｓｕ＼Ａｄｖａｎｃｉｎｇ　ｂｅｙｏｎｄ
2021/3/5 2021026118 商標 §Ａｎｒｉｔｓｕ　Ａｄｖａｎｃｉｎｇ　ｂｅｙｏｎｄ
2021/3/1 2021031939 特許 伝送線結合構造
2021/2/25 2021028462 特許 スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2021/2/19 2021024784 特許 光検査装置及び光検査方法
2021/2/15 2021022094 特許 信号発生装置とその減衰量補正方法
2021/2/15 2021022092 特許 信号発生装置とその減衰量補正方法
2021/2/12 2021021091 特許 試験装置及び試験方法
2021/2/12 2021020943 特許 誤り検出装置および誤り検出方法
2021/1/28 2021012222 特許 誤り検出装置および誤り検出方法
2021/1/28 2021009723 商標 Ａｄｖａｎｃｉｎｇ　ｂｅｙｏｎｄ
2021/1/19 2021006497 特許 アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置
2021/1/19 2021006498 特許 アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置
2021/1/15 2021005274 特許 測定装置とその補間方法
2021/1/15 2021005273 特許 信号発生装置とその減衰量補正方法
2021/1/13 2021003533 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2021/1/13 2021003534 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2021/1/13 2021003536 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2021/1/13 2021003535 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2020/12/23 2020213968 特許 誤り率測定装置及びコードワード位置表示方法
2020/12/14 2020206586 特許 ＰＡＭ波形解析装置及びＰＡＭ波形解析方法
2020/12/14 2020206917 特許 誤り検出装置および誤り検出方法
2020/12/8 2020203387 特許 波形観測装置、及び波形観測方法
2020/12/3 2020200715 特許 信号発生装置及び信号発生方法
2020/11/25 2020195276 特許 測定装置、測定システム及び測定装置の制御方法
2020/11/18 2020191900 特許 通信端末測定システム、通信端末測定装置、及び通信端末試験方法
2020/10/30 2020182917 特許 ＯＴＤＲ測定装置およびＯＴＤＲの測定方法
2020/10/20 2020176021 特許 自動測定装置及び自動測定方法
2020/10/19 2020175364 特許 ＯＴＤＲ測定装置および測定器制御方法
2020/10/16 2020174475 特許 移動端末試験装置とその異常時処理選択方法
2020/10/13 2020172620 特許 フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置及び測定システム、並びにフレーム同期方法及び測定方法
2020/10/13 2020172621 特許 波形データ転送装置及びそれを備えた測定装置及び測定システム、並びに波形データ転送方法及び測定方法
2020/10/7 2020169633 特許 受信装置、該受信装置を備えた移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/10/7 2020169634 特許 受信装置、該受信装置を備えた移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/10/1 2020166889 特許 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法
2020/9/30 2020165372 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2020/9/28 2020161934 特許 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/9/25 2020160847 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2020/9/9 2020151394 特許 端末保持具、端末回転装置、及び移動端末試験装置
2020/9/9 2020151395 特許 通信アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置
2020/9/4 2020148796 特許 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法
2020/9/4 2020149186 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2020/9/3 2020148455 特許 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法
2020/9/3 2020148456 特許 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法
2020/8/31 2020145926 特許 誤り率測定装置およびパラメータ取得方法
2020/8/28 2020144286 特許 アンテナデバイス、それを備えたアンテナ装置、及びそれの製造方法
2020/8/19 2020138758 特許 光測定装置
2020/8/17 2020137559 特許 パルス変調光計測方法、パルス変調光計測プログラム、及び光スペクトラムアナライザ
2020/7/31 2020130617 特許 回路素子及び薄膜基板実装方法
2020/7/30 2020129320 特許 基板間接続構造および基板間接続方法
2020/7/28 2020127072 特許 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/7/27 2020126786 特許 回路基板、保護カバーおよび回路基板の製造方法
2020/7/22 2020125273 特許 受信装置及び受信方法、並びに該受信装置を備えた移動端末試験装置
2020/7/20 2020123781 特許 スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2020/7/9 2020118786 特許 伝送線路変換構造及び同軸型エンドランチコネクタ
2020/7/2 2020115170 特許 エンドランチコネクタ及び空洞共振抑制方法
2020/7/1 2020114394 特許 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/6/23 2020107689 特許 受信装置及び受信方法、並びに該受信装置を備えた移動端末試験装置
2020/6/18 2020105007 特許 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/5/25 2020090920 特許 回路素子、回路素子の製造方法、及び電気信号伝送方法
2020/5/22 2020089365 特許 試験装置及び試験方法
2020/5/20 2020088250 特許 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法
2020/4/27 2020078035 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験システム
2020/4/27 2020078233 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2020/4/24 2020077330 特許 ケーブル評価システム及びケーブル評価方法
2020/4/20 2020074908 特許 製品検査装置
2020/4/17 2020073876 特許 信号発生装置及び信号発生方法
2020/4/10 2020070970 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2020/4/2 2020066852 特許 物品選別装置および物品検査装置
2020/3/31 2020062453 特許 信号処理装置とその信号測定方法
2020/3/31 2020063768 特許 ネットワーク試験器
2020/3/27 2020057943 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2020/3/26 2020056443 特許 電波伝播測定装置とその同期信号探索方法
2020/3/26 2020056442 特許 電波伝播測定装置とその同期信号探索方法
2020/3/25 2020054495 特許 誤り率測定装置および連続エラー検索方法
2020/3/25 2020054006 特許 誤り率測定装置、及び誤り率測定方法
2020/3/25 2020054004 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2020/3/25 2020054005 特許 パターン同期回路、それを用いた誤り率測定装置、及びパターン同期方法
2020/3/24 2020052351 特許 誤り率測定装置及び設定画面表示方法
2020/3/24 2020052349 特許 ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法
2020/3/24 2020052348 特許 ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法
2020/3/23 2020051842 特許 移動端末試験装置及び試験方法
2020/3/19 2020049302 特許 温度試験装置及び温度試験方法
2020/3/19 2020049586 特許 誤り率測定装置及びデータ分割表示方法
2020/3/19 2020049759 特許 測定システム及び測定方法
2020/3/17 2020046302 特許 Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法
2020/3/16 2020045366 特許 ビット誤り率測定装置、及び、それにおける判定帰還型等化器の校正方法
2020/3/16 2020044949 特許 信号発生装置及び信号発生方法
2020/3/13 2020043696 特許 クロック再生装置、誤り率測定装置、クロック再生方法、及び誤り率測定方法
2020/3/13 2020044421 特許 誤り率測定装置及びエラーカウント方法
2020/3/11 2020042015 特許 パターン同期回路、それを用いた誤り率測定装置、及びパターン同期方法
2020/3/11 2020042105 特許 計量装置
2020/3/4 2020037055 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法
2020/3/4 2020037056 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法
2020/3/4 2020037057 特許 信号処理装置とそのインデックス情報推測方法
2020/3/4 2020036857 特許 ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法
2020/2/28 2020033640 特許 ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法
2020/2/28 2020033641 特許 ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法
2020/2/26 2020030568 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法
2020/2/25 2020029770 特許 測定装置、及び測定方法
2020/2/20 2020027263 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システムとＮＳＡの試験方法
2020/2/17 2020024189 特許 移動端末測定システム、及び通信管理情報表示方法
2020/2/14 2020023188 特許 ブロック自動検出装置、それを備えた信号解析装置、ブロック自動検出方法、及び信号解析方法
2020/2/6 2020019004 特許 試験装置及び試験方法
2020/2/6 2020019003 特許 試験装置及び試験方法
2020/1/31 2020014379 特許 移動端末試験システム、移動端末試験装置及び移動端末試験システムの制御方法
2020/1/31 2020015161 特許 誤り率測定システム及び誤り率測定方法
2020/1/30 2020013854 特許 Ｘ線検査装置
2020/1/27 2020011151 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2020/1/27 2020010772 特許 信号発生装置及び信号発生方法
2020/1/17 2020006228 特許 移動端末試験装置とその圏外試験制御方法
2020/1/10 2020002757 特許 イメージ読み取り装置およびイメージ読み取り方法
2020/1/6 2020000414 特許 誤り率測定システム及び誤り率測定方法
2019/12/27 2019237777 特許 周波数変換装置とその周波数変換方法
2019/12/26 2019236716 特許 製品検査装置及び製品検査方法
2019/12/18 2019228570 特許 到来方向推定システム、及び到来方向推定方法
2019/12/16 2019226818 特許 クロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法
2019/12/16 2019226819 特許 クロック再生回路、波形観測装置、クロック再生方法及び波形観測方法
2019/12/3 2019219028 特許 信号解析装置および信号解析方法
2019/12/3 2019219027 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2019/12/3 2019219029 特許 信号解析装置および信号解析方法
2019/12/2 2019218363 特許 通信端末測定システム、通信端末測定装置及び測定関連情報表示方法
2019/11/28 2019215369 特許 クロック再生回路を備えた波形観測装置及びクロック再生方法
2019/11/28 2019215368 特許 クロック再生回路を備えた波形観測装置及びクロック再生方法
2019/11/20 2019209718 特許 Ｘ線検査装置
2019/11/7 2019201980 特許 パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法
2019/10/25 2019194567 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/10/25 2019194568 特許 誤り率測定器及びエラー検索方法
2019/10/25 2019194569 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/10/15 2019188911 特許 誤り率測定器のデータ表示装置及びエラーカウント方法
2019/10/9 2019186133 特許 アンテナ装置及び測定方法
2019/9/30 2019180080 特許 移動端末試験システム
2019/9/30 2019180363 特許 通信端末測定システム及び測定関連情報表示方法
2019/9/30 2019180362 特許 エンファシス付加装置、エンファシス付加方法及び誤り率測定装置
2019/9/26 2019175284 特許 ＰＡＭ３信号発生装置及びＰＡＭ３信号発生方法
2019/9/19 2019170329 特許 周波数変換器、及び高周波信号の供給方法
2019/9/5 2019161850 特許 電波暗箱、測定装置及び被試験対象姿勢監視方法
2019/9/5 2019161784 特許 信号発生装置とそのスプリアス除去方法
2019/9/3 2019160620 特許 金属検出装置
2019/8/6 2019144492 特許 測定装置、通信端末測定システム、及び測定関連情報表示方法
2019/7/29 2019139028 特許 測定装置とその測定対象表示方法
2019/7/26 2019137984 特許 金属検出装置
2019/7/17 2019131978 特許 物品検査装置
2019/7/16 2019131402 特許 クロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法
2019/7/4 2019125230 特許 測定装置及び測定方法
2019/6/27 2019119668 特許 金属検出装置
2019/6/27 2019119667 特許 金属検出装置
2019/6/26 2019118225 特許 信号測定装置とそのクロック同期方法
2019/6/26 2019118224 特許 信号処理装置とその同期信号検出方法
2019/5/29 2019100343 特許 信号試験装置とそのセルフテスト方法
2019/5/27 2019098817 特許 位相特性校正装置および位相特性校正方法
2019/5/23 2019097134 特許 高周波スイッチ、シグナルジェネレータ、及びスペクトラムアナライザ
2019/5/23 2019096646 特許 物品検査装置及び物品検査方法
2019/5/22 2019095881 特許 伝送線路回路及び無線測定装置
2019/5/22 2019096121 特許 試験体とそれを用いた診断システム
2019/5/17 2019093570 特許 光パルス試験装置
2019/5/9 2019088835 特許 物品検査装置及び物品検査方法
2019/4/11 2019075750 特許 組合せ計量装置
2019/4/10 2019075028 特許 クロック分配回路及びクロック分配方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/3/26 2019058363 特許 誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法
2019/3/20 2019052878 特許 金属検出機
2019/3/19 2019051521 特許 半導体光増幅器
2019/3/14 2019047288 特許 可変低減イコライザ及びそれを用いた損失補償方法と誤り率測定器及び誤り率測定方法
2019/3/14 2019047287 特許 供給装置
2019/3/13 2019045747 特許 計量装置
2019/3/7 2019041762 特許 重量選別システム
2019/3/6 2019040729 特許 Ｘ線検査装置
2019/2/25 2019031253 特許 導波管接続構造、それを用いた導波管スイッチ及びミリ波帯スペクトラムアナライザ
2019/2/25 2019031582 特許 移動端末試験装置とそのサポート組合せ取得方法
2019/2/25 2019031252 特許 導波管－伝送線路変換器
2019/2/22 2019030535 特許 Ｘ線検査装置
2019/2/21 2019029272 特許 物品検査装置
2019/2/19 2019027586 特許 Ｘ線検査装置
2019/2/18 2019026880 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2019/2/13 2019023143 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/2/13 2019023538 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2019/2/5 2019018752 特許 物品検査装置
2019/2/4 2019017995 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2019/1/31 2019015124 特許 伝送線路及びエアブリッジ構造
2019/1/31 2019015878 特許 周波数特性表示装置および周波数特性表示方法
2019/1/29 2019013517 特許 アンテナ装置及び測定方法
2019/1/29 2019013516 特許 計量装置および計量値補正方法
2019/1/25 2019010799 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2019/1/23 2019009379 特許 ＦＥＣエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びＦＥＣエラー付加方法
2019/1/23 2019009380 特許 バーストエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びバーストエラー付加方法
2019/1/23 2019009378 特許 ＦＥＣエラー付加装置、それを用いた試験信号発生装置、及びＦＥＣエラー付加方法
2019/1/18 2019006918 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/1/18 2019006919 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2019/1/18 2019006783 特許 データ信号伝送装置およびデータ信号伝送方法
2019/1/10 2019002732 特許 誤り検出装置および誤り検出方法
2018/12/26 2018242823 特許 ＰＡＭ４シンボルエラー付加装置および方法と誤り率測定装置および方法
2018/12/20 2018238118 特許 移動端末試験装置とそのテストケース抽出方法
2018/12/17 2018235641 特許 重量測定装置
2018/12/13 2018233661 特許 物品検査装置
2018/12/13 2018233662 特許 物品検査装置
2018/12/13 2018233663 特許 周波数特性補正装置及び周波数特性補正方法
2018/12/7 2018230290 特許 信号発生装置とその温度変化に対する補正方法
2018/12/5 2018227895 特許 物品検査情報管理装置、そのプログラム及び物品検査システム
2018/11/29 2018223942 特許 アンテナ装置及び測定方法
2018/11/27 2018221674 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2018/11/27 2018221675 特許 測定装置、測定システム及び測定方法
2018/11/22 2018219332 特許 物品検査装置
2018/11/22 2018219107 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システムとＮＳＡの試験方法
2018/11/15 2018214832 特許 物質特性検査装置
2018/11/8 2018210537 特許 移動端末試験装置、移動端末試験システム及びデュアルコネクティビティの試験方法
2018/11/7 2018209529 特許 導波管接続構造、それを用いたミリ波帯フィルタバンク及びミリ波帯スペクトラムアナライザ
2018/11/5 2018208234 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2018/10/17 2018195871 特許 移動端末試験装置とその干渉状態擬似方法
2018/10/17 2018195843 特許 物品測定装置
2018/10/12 2018193331 特許 Ｘ線検査装置
2018/10/12 2018193796 特許 アンテナ装置及び測定方法
2018/10/12 2018193151 特許 ライセンス管理装置、移動端末試験システムとライセンス管理方法
2018/10/5 2018190043 特許 アンテナ装置および測定方法
2018/9/27 2018182042 特許 物品検査装置
2018/9/25 2018179055 特許 Ｘ線検査装置
2018/9/25 2018179054 特許 Ｘ線検査装置
2018/9/20 2018175891 特許 Ｘ線検査装置用の試験体およびその製造方法
2018/9/19 2018175075 特許 外観検査装置および外観検査方法
2018/9/12 2018170465 特許 Ｘ線検査装置及びＸ線発生器高さ調整方法
2018/9/11 2018169733 特許 パターン発生装置およびパターン発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法
2018/9/11 2018169734 特許 パターン発生装置およびパターン発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法
2018/9/11 2018169732 特許 ＰＡＭデコーダおよびＰＡＭデコード方法と誤り検出装置および誤り検出方法
2018/9/11 2018169731 特許 ＰＡＭデコーダおよびＰＡＭデコード方法と誤り検出装置および誤り検出方法
2018/9/6 2018166537 特許 測定装置及び測定方法
2018/8/31 2018163058 特許 Ｘ線検査装置
2018/8/28 2018108240 商標 ＡｄａｐｔｉｖｅＧａｔｅｗａｙ
2018/8/24 2018157121 特許 電磁波シールドボックス
2018/8/23 2018156570 特許 信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム
2018/8/20 2018154080 特許 物品検査装置
2018/8/3 2018146966 特許 平面アンテナ装置、それを備えた無線端末測定装置、及び無線端末測定方法
2018/7/30 2018142613 特許 組合せ計量装置
2018/7/27 2018141435 特許 信号発生装置および該装置を用いたＰＣＩｅ用ＩＳＩキャリブレーションチャネルの実現方法
2018/7/25 2018139407 特許 測定装置及び測定方法
2018/7/24 2018138289 特許 信号発生装置および該装置を用いた周波数特性表示方法
2018/7/24 2018138288 特許 供給規制装置、それを用いた搬送装置、及び該搬送装置を用いた組合せ計量装置
2018/7/23 2018137893 特許 測定装置および該装置のパラメータ設定方法
2018/7/19 2018136007 特許 組合せ計量装置
2018/7/11 2018131318 特許 物品検査装置及び物品検査システム
2018/7/11 2018131771 特許 測定装置及び測定パラメータ設定方法
2018/7/3 2018126912 特許 物品検査装置
2018/6/19 2018116272 特許 アンテナ測定装置及びアンテナ測定方法
2018/6/14 2018113710 特許 信号発生装置および信号発生方法
2018/6/8 2018110597 特許 物品検査システム及びそのプログラム
2018/6/8 2018110595 特許 物品検査装置、物品検査システム及びプログラム
2018/6/8 2018110596 特許 生産管理システム及び生産管理プログラム
2018/6/6 2018108325 特許 Ｘ線検査装置
2018/5/31 2018105113 特許 近傍界測定装置及び近傍界測定方法
2018/5/25 2018100379 特許 信号発生装置および信号発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法
2018/5/25 2018100749 特許 Ｘ線ラインセンサ及びそれを用いたＸ線異物検出装置
2018/5/22 2018098140 特許 測定装置及び測定方法
2018/5/22 2018098141 特許 測定装置及び測定方法
2018/5/16 2018094409 特許 誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法
2018/5/16 2018094410 特許 誤り率測定装置及び該装置のパラメータ探索方法
2018/5/16 2018094411 特許 同期装置および同期方法
2018/5/14 2018092731 特許 Ｘ線検査装置
2018/4/27 2018087274 特許 キャリブレーションシステム及びキャリブレーション方法
2018/4/24 2018083203 特許 位相特性校正装置及び位相特性校正方法
2018/4/19 2018080485 特許 異物検出装置および異物検出方法
2018/4/5 2018073156 特許 ３値信号発生装置及び３値信号発生方法とパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法
2018/4/5 2019512478 特許 物品振分装置
2018/3/30 2018067867 特許 無線端末測定装置及び無線端末測定方法
2018/3/29 2018064467 特許 波長掃引光源、それを用いたＯＦＤＲ装置及び測定方法
2018/3/29 2018063674 特許 移動端末試験システムと移動端末試験方法
2018/3/27 2018059905 特許 測定装置及び測定方法
2018/3/23 2018057088 特許 平衡不平衡変換器及びそれを備えた半導体集積回路
2018/3/23 2021019517 特許 平衡不平衡変換器及びそれを備えた半導体集積回路
2018/3/14 2018046431 特許 スペクトラム拡散クロック発生器およびパルスパターン発生装置とスペクトラム拡散クロック発生方法およびパルスパターン発生方法
2018/3/14 2018046890 特許 冷却装置及び検査装置
2018/3/12 2018044204 特許 フィードフォワードイコライザ及びフィードフォワードイコライザの高周波特性改善方法
2018/3/12 2018044205 特許 ＰＡＭ４分離回路及びＰＡＭ４分離方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法
2018/3/12 2018044206 特許 サンプリングオシロスコープ及びこれを用いた自動スケール方法
2018/3/7 2018041019 特許 Ｘ線検査装置
2018/3/7 2018041016 特許 スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法とパターン発生器及びパターン発生方法
2018/3/5 2018038754 特許 フレーム同期装置及びそれを備えた信号解析装置並びにフレーム同期方法及び信号解析方法
2018/3/5 2018038755 特許 フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法
2018/2/23 2018030880 特許 アンテナ装置および該アンテナ装置を用いた測定装置
2018/2/15 2018024705 特許 高周波用差動信号伝送線路及びそれを備えた信号伝送システム
2018/2/7 2018020057 特許 無線端末のアクティブアンテナ推定方法および無線端末測定装置
2018/2/5 2018018146 特許 無線端末測定装置
2018/2/2 2018017430 特許 信号測定装置及び信号測定方法
2018/1/24 2018009766 特許 トリガ生成回路及びトリガ生成方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法
2018/1/22 2018007966 特許 信号発生装置とその出力レベル調整方法
2018/1/10 2018001919 特許 Ｘ線検査装置
2018/1/10 2018001917 特許 Ｘ線検査装置
2018/1/10 2018001918 特許 Ｘ線検査装置
2017/12/21 2017245463 特許 物品検査装置
2017/12/21 2017245462 特許 アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法
2017/12/20 2017244094 特許 サンプリングオシロスコープ及びこれを用いたサンプリング方法
2017/12/20 2017243632 特許 光治療装置及び光治療装置の光出射方法
2017/12/18 2017241566 特許 測定装置及び測定方法
2017/12/14 2017239603 特許 Ｘ線管およびＸ線発生装置
2017/11/30 2017230403 特許 フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法
2017/11/20 2017222875 特許 無線端末測定装置及び無線端末測定方法
2017/11/6 2017214258 特許 ミリ波帯フィルタバンクおよびそれを用いたミリ波帯スペクトラムアナライザ
2017/11/6 2017213945 特許 Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法
2017/10/31 2017210403 特許 画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法
2017/10/30 2017209517 特許 フィルタ係数算出装置を備えた信号発生装置及び信号発生方法
2017/10/26 2017207243 特許 Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法
2017/10/20 2017204050 特許 信号発生器およびその信号発生方法
2017/9/29 2017190965 特許 信号解析装置及び信号解析方法並びに信号解析プログラム
2017/9/29 2017190778 特許 異常検知装置及び異常検知方法並びに異常検知プログラム
2017/9/28 2017187362 特許 物品検査装置
2017/9/22 2017181995 特許 生産管理システム及び生産管理プログラム
2017/9/19 2017124875 商標 §Ｃｈａｎｎｅｌ　Ｖｉｓｕａｌｉｚｅｒ
2017/9/19 2017124876 商標 ＣＨＡＮＮＥＬ　ＶＩＳＵＡＬＩＺＥＲ
2017/9/14 2017176569 特許 信号解析装置及び信号解析装置のダイナミックレンジ最適化方法
2017/9/12 2017175159 特許 ヘテロ接合バイポーラトランジスタおよびその製造方法
2017/9/8 2017172887 特許 物品検査装置及び物品検査システム
2017/9/1 2017168499 特許 端末試験装置及び端末試験方法
2017/8/29 2017164389 特許 物品検査装置
2017/8/22 2017159475 特許 ＮＢ－ＩｏＴ端末試験装置及びＮＢ－ＩｏＴ端末試験方法
2017/8/21 2017158722 特許 移動端末試験装置および移動端末試験方法
2017/8/2 2017149796 特許 金属検出装置および金属検出方法
2017/8/1 2017149406 特許 無線端末の受信特性測定システムおよび測定方法
2017/7/27 2017145139 特許 移動端末試験装置とそのパラメータ変更方法
2017/7/26 2017144390 特許 Ｘ線検査装置
2017/7/19 2017140174 特許 Ｘ線検査装置
2017/7/18 2017095518 商標 ＳＱＡ－Ｒ
2017/7/14 2017138402 特許 移動端末試験装置とその通信ログデータ表示方法
2017/7/10 2017134763 特許 物品検査装置
2017/7/3 2017130218 特許 変調方式検出装置及びそれを備えた測定装置並びに変調方式検出方法及び測定方法
2017/7/3 2017130512 特許 誤り検出装置および誤り検出方法
2017/6/30 2017128400 特許 物品検査装置およびその校正方法
2017/6/30 2017128671 特許 端末試験装置
2017/6/28 2017126495 特許 フレーム同期装置及びそれを備えた測定装置並びにフレーム同期方法及び測定方法
2017/6/26 2017124383 特許 Ｘ線検査装置
2017/6/26 2017124384 特許 物品検査装置
2017/6/22 2017122404 特許 エンファシス発生器およびエンファシス発生方法
2017/6/20 2017120619 特許 ＭＩＭＯ方式システムの試験装置および試験方法
2017/6/19 2017119729 特許 信号発生装置および信号発生方法
2017/6/14 2017116867 特許 物品振分装置
2017/6/13 2017116002 特許 近傍界測定装置及び近傍界測定方法
2017/6/5 2017110980 特許 測定装置及び測定方法
2017/5/31 2017072891 商標 ＳＱＡ－Ｒ
2017/5/31 2017072890 商標 ＳＱＡ
2017/5/26 2017104099 特許 金属検出装置
2017/5/25 2017103662 特許 移動端末試験装置とその周波数情報設定方法
2017/5/25 2017103663 特許 移動端末試験装置とそのアップリンク信号測定方法
2017/5/15 2017096166 特許 スペクトラムアナライザ及び信号分析方法
2017/5/15 2017096452 特許 Ｘ線検査装置
2017/5/15 2017096451 特許 Ｘ線検査装置
2017/5/11 2017094906 特許 物品検査装置
2017/5/11 2017094536 特許 無線端末のアンテナ指向特性測定システムおよび測定方法
2017/5/10 2017093740 特許 物品処理装置
2017/4/27 2017088765 特許 金属検出装置
2017/4/27 2017088764 特許 光周波数領域反射測定装置及び光周波数領域反射測定方法
2017/4/26 2017086761 特許 移動端末試験装置とその周波数情報設定方法
2017/3/31 2017069834 特許 移動端末試験装置とその設定内容表示方法
2017/3/30 2017068137 特許 選別装置および物品検査システム
2017/3/30 2017068136 特許 測定装置及び測定方法
2017/3/29 2017065520 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2017/3/29 2017065512 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2017/3/29 2017065503 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2017/3/29 2017065514 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2017/3/29 2017065510 特許 光パルス試験装置及び光パルス試験方法
2017/3/28 2017062258 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/28 2017062689 特許 選別装置
2017/3/28 2017063396 特許 ミリ波帯信号測定回路の位相特性校正システムおよび位相特性校正方法
2017/3/27 2017060630 特許 パルスパターン発生装置、それを用いた誤り率測定システム、及びパルスパターン発生方法
2017/3/27 2017060845 特許 測定装置及び測定方法
2017/3/27 2017060985 特許 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法
2017/3/23 2017057367 特許 伝送線路－導波管変換器及びその製造方法
2017/3/17 2017052680 特許 測定装置、測定システム及び測定方法
2017/3/17 2017053052 特許 ３値信号発生装置及び３値信号発生方法
2017/3/16 2017051299 特許 信号発生装置、信号調整システム及び信号調整方法
2017/3/16 2017051573 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/15 2017049332 特許 物品検査装置およびその検査条件切替方法
2017/3/15 2017049581 特許 デスキュー回路及びデスキュー方法
2017/3/14 2017048271 特許 測定装置及び測定方法
2017/3/13 2017047099 特許 選別装置
2017/3/9 2017045170 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/9 2017045172 特許 冷却装置
2017/3/9 2017045178 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/8 2017043466 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/7 2017042501 特許 Ｘ線検査装置
2017/3/7 2017042538 特許 物品検査装置およびその検査対象品種切替方法
2017/3/6 2017041894 特許 測定装置及び測定方法
2017/3/6 2017041895 特許 測定装置及び測定方法
2017/2/28 2017037142 特許 Ｘ線検査装置
2017/2/28 2017037143 特許 Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法
2017/2/27 2017035408 特許 金属検出機
2017/2/27 2017035409 特許 金属検出機
2017/2/24 2017033719 特許 Ｘ線検査装置
2017/2/23 2017032300 特許 トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法
2017/2/23 2017032299 特許 トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法
2017/2/21 2017029848 特許 測定結果表示装置及び測定結果表示方法
2017/2/21 2017029847 特許 測定結果表示装置及び測定結果表示方法
2017/2/21 2017029846 特許 測定結果表示装置及び測定結果表示方法
2017/2/16 2017027062 特許 Ｄ／Ａ変換装置
2017/2/15 2017025813 特許 多列搬送コンベアおよび選別装置
2017/2/15 2017025727 特許 物品検査装置
2017/2/15 2017025812 特許 周波数逓倍器及びそれを備えた測定装置
2017/2/10 2017022898 特許 測定モジュール、測定システム及び測定方法
2017/2/8 2017020968 特許 画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法
2017/2/8 2017020967 特許 画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法
2017/2/3 2017018626 特許 光サンプリングオシロスコープ及びその感度改善方法
2017/2/2 2017017721 特許 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ
2017/2/2 2017017720 特許 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ
2017/2/2 2017017719 特許 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ
2017/1/31 2017016022 特許 光通信システム評価装置
2017/1/20 2017008082 特許 Ｘ線検査装置
2017/1/16 2017004818 特許 Ｘ線検査装置
2016/12/27 2016253230 特許 デジタル信号オフセット調整装置及びデジタル信号オフセット調整方法
2016/12/19 2016245604 特許 ＭＩＭＯ方式システムの試験装置および試験方法
2016/12/14 2016242377 特許 測定装置及び該装置のパラメータ設定方法
2016/11/28 2016229888 特許 端面検査装置とその合焦画像データ取得方法
2016/11/28 2016229889 特許 光コネクタ端面検査装置とその合焦画像データ取得方法
2016/11/28 2016230047 特許 近傍界測定装置及び近傍界測定方法
2016/11/8 2016218271 特許 Ｘ線検査装置
2016/11/2 2016215451 特許 測定装置及び該装置を用いたパラメータ設定方法
2016/10/26 2016209674 特許 誤り率測定装置および誤り率測定方法
2016/10/21 2016206828 特許 光ファイバ障害点特定システムとその光ファイバ障害点特定方法
2016/10/12 2016200869 特許 アンテナ測定装置
2016/10/6 2016198186 特許 Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法
2016/10/6 2016197860 特許 広帯域信号解析装置及び広帯域信号解析方法
2016/10/6 2016197861 特許 アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法
2016/9/28 2016189991 特許 Ｘ線検査装置
2016/9/20 2016182789 特許 位相測定装置及び位相測定方法
2016/9/15 2016180569 特許 物品検査装置
2016/8/31 2016169322 特許 判定帰還型等化器及び判定帰還型等化方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2016/8/31 2016169287 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2016/8/26 2016165941 特許 非線形ＰＡＭ４信号発生装置及び非線形ＰＡＭ４信号発生方法
2016/8/23 2016163002 特許 緊急通報システム用車載器試験装置および試験方法
2016/8/18 2016160325 特許 測定装置及び測定方法
2016/7/26 2016145954 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2016/7/21 2016143776 特許 測定システム
2016/7/12 2016137705 特許 Ｘ線検査装置
2016/7/12 2016137757 特許 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法
2016/7/8 2016135625 特許 映像信号復号装置、映像表示システム、映像表示方法
2016/7/4 2016132752 特許 Ｘ線検査装置
2016/7/4 2016132666 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2016/7/4 2016132668 特許 信号分析装置及び信号分析方法
2016/6/29 2016128934 特許 Ｘ線検査装置
2016/6/27 2016126128 特許 分配器およびそれを用いた信号発生システム
2016/6/17 2016120573 特許 移動端末試験装置および送信アンテナ試験方法
2016/6/6 2016112902 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2016/6/6 2016112901 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2016/5/23 2016102787 特許 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法
2016/5/12 2016096060 特許 物品検査装置
2016/4/27 2016089825 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2016/4/7 2016076957 特許 位相調整システム及び位相調整方法
2016/3/30 2019213765 特許 異物検出装置および異物検出方法
2016/3/30 2016068920 特許 異物検出装置および異物検出方法
2016/3/30 2016068615 特許 誤り率測定装置および該装置の自動補正方法
2016/3/30 2016067865 特許 異物検出装置および異物検出方法
2016/3/29 2016066742 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2016/3/29 2016066298 特許 重量測定装置
2016/3/29 2016065496 特許 異物検出装置および異物検出方法
2016/3/28 2016064223 特許 重量選別装置
2016/3/28 2016064254 特許 重量測定装置
2016/3/28 2016063628 特許 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法
2016/3/28 2016064717 特許 信号生成装置、信号生成方法及び信号生成プログラム
2016/3/28 2016063629 特許 信号調整システム及び信号調整方法
2016/3/28 2018118709 特許 信号生成装置、信号生成方法及び信号生成プログラム
2016/3/25 2016061186 特許 移動端末試験装置とそのコンポーネントキャリア割り当て方法
2016/3/25 2016061623 特許 物品検査装置
2016/3/25 2016061622 特許 物品検査装置
2016/3/24 2016059787 特許 発振回路及び発振方法
2016/3/24 2016060384 特許 ＥＳＤ保護回路およびＥＳＤ保護方法
2016/3/22 2016057203 特許 誤り率測定装置及び該装置を用いた自動位相調整方法
2016/3/22 2016056803 特許 発振回路及び発振方法
2016/3/18 2016054855 特許 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置
2016/3/18 2016054737 特許 トランスインピーダンスアンプおよび光信号受信装置
2016/3/15 2016051706 特許 ＯＳＮＲ測定装置および測定方法
2016/3/11 2016048503 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2016/3/10 2016046977 特許 異物検出装置および異物検出方法
2016/3/9 2016045779 特許 位相雑音最適化装置及び位相雑音最適化方法
2016/3/9 2016045778 特許 発振回路及び発振方法
2016/3/8 2016044585 特許 重量測定装置
2016/2/29 2016037103 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2016/2/23 2016031628 特許 移動体端末試験装置とその通信経路確立方法
2016/2/18 2016028948 特許 位相誤差測定装置及び方法
2016/2/16 2016026893 特許 移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法
2016/2/16 2016027169 特許 計量装置
2016/2/10 2016023484 特許 半導体集積回路および半導体集積回路の製造方法
2016/2/8 2016022063 特許 アイダイアグラム表示装置およびアイダイアグラム表示方法
2016/2/8 2016021735 特許 測定装置及び測定方法
2016/2/5 2016020469 特許 重量測定装置
2016/2/3 2016019124 特許 物品検査装置
2016/2/2 2016018105 特許 ジッタ耐力測定装置およびジッタ耐力測定方法
2016/1/29 2016016266 特許 Ｍａｓｓｉｖｅ－ＭＩＭＯアンテナ測定装置およびその指向性測定方法
2016/1/28 2016014228 特許 移動端末試験装置とそのスループット測定方法
2016/1/27 2016013164 特許 移動端末試験装置とそのスループット測定方法
2015/12/21 2015248758 特許 測定装置及び測定方法
2015/12/21 2015248757 特許 シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法
2015/12/18 2015124847 商標 §Ａｎｒｉｔｓｕ
2015/12/17 2015245998 特許 移動端末試験装置とその試験系の確認方法
2015/12/17 2015245999 特許 移動端末試験装置とそのフロー制御閾値の設定方法
2015/12/11 2015242306 特許 マルチバンドイコライザ、それを用いた誤り率測定システム、誤り率測定装置、及び経路選択方法
2015/12/9 2015240233 特許 ビット同期回路及びビット同期方法
2015/12/8 2015239302 特許 ＭＩＭＯ方式システムの試験装置および試験方法
2015/12/8 2015239753 特許 光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法
2015/12/8 2019029226 特許 光パルス試験器及び光パルス試験器の表示方法
2015/11/18 2015225789 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2015/10/30 2015214552 特許 帰還増幅回路およびその周波数特性制御方法
2015/10/29 2015213048 特許 光コネクタのフェルール端面検査装置および検査用のプログラム
2015/10/26 2015209743 特許 移動体端末試験装置およびそのダウンリンク信号位相調整方法
2015/10/23 2015102623 商標 ＱＵＩＣＣＡ
2015/10/16 2015204523 特許 誤り率測定装置の過電流保護回路及び過電流保護方法
2015/10/2 2015196823 特許 移動端末試験装置および移動端末試験装置用局部発振周波数検出方法
2015/10/1 2015196001 特許 ホッパ及び組合せ計量装置
2015/9/30 2015193817 特許 物品検査装置
2015/9/29 2015191745 特許 物品検査装置
2015/9/18 2015185673 特許 電波伝播測定装置及びそのアンテナ補正値設定方法
2015/9/16 2015182753 特許 電波伝播測定装置及びその受信タイミング表示方法
2015/9/9 2015177326 特許 移動端末試験装置とそのコンポーネントキャリア割り当て方法
2015/7/27 2015147945 特許 信号処理装置及び信号処理方法
2015/7/17 2015142745 特許 フェージングシミュレータ及びフェージング信号生成方法
2015/7/15 2015141421 特許 ノイズフロアレベル低減装置及びノイズフロアレベル低減方法
2015/6/30 2015131442 特許 物品検査装置
2015/6/29 2015129751 特許 ＥＳＤ保護回路
2015/6/29 2015129668 特許 計量装置
2015/6/29 2015130124 特許 重量測定装置
2015/6/29 2015129669 特許 物品検査装置
2015/6/25 2015127222 特許 物品検査装置
2015/6/19 2015124046 特許 重量測定装置
2015/6/15 2015056456 商標 §Ａｎｒｉｔｓｕ
2015/6/11 2015118368 特許 サンプリング回路およびサンプリング方法とサンプリングオシロスコープ並びに波形表示方法
2015/5/29 2015109273 特許 パケット転送システム、中継装置、パケット転送方法及びプログラム
2015/5/22 2015104800 特許 金属検出機
2015/5/22 2015104799 特許 金属検出機
2015/5/15 2015100257 特許 内視鏡用光線力学的治療装置
2015/5/15 2015100256 特許 出力測定装置用アダプタセット
2015/5/15 2015100255 特許 レーザ治療装置および食道癌用光線力学的治療装置
2015/4/16 2015083929 特許 計量装置
2015/4/1 2015075182 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2015/3/31 2015073248 特許 フェージングシミュレータ及びフェージングシミュレーション方法
2015/3/31 2015072345 特許 測定装置とその測定方法
2015/3/30 2015070217 特許 データ信号発生装置及びデータ信号発生方法
2015/3/27 2015066396 特許 信号測定装置、信号測定システム及び信号測定方法
2015/3/27 2015067548 特許 通信障害監視装置、通信障害監視方法及び通信システム
2015/3/27 2015066372 特許 移動端末試験装置とその干渉状態擬似方法
2015/3/27 2015067274 特許 信号解析装置及び方法
2015/3/27 2015028314 商標 Ａｎｒｉｔｓｕ　Ｉｎｆｉｖｉｓ
2015/3/27 2015067273 特許 位相調整装置及び位相調整方法
2015/3/25 2015061809 特許 Ｘ線検査装置
2015/3/25 2015061810 特許 物品検査装置
2015/3/24 2015061611 特許 フェージングシミュレータ及び移動体端末試験システム
2015/3/24 2015061041 特許 移動体端末試験システム
2015/3/24 2015060709 特許 移動体端末試験システムおよび移動体端末のスループット試験方法
2015/3/23 2015059443 特許 ＩＣ回路
2015/3/20 2015057991 特許 ＭＩＭＯシステム試験装置およびそのチャネル相関情報設定方法
2015/3/20 2015058168 特許 グランド導通治具およびグランド導通方法
2015/3/19 2015056253 特許 測定装置及び方法、並びに測定システム
2015/3/12 2015049952 特許 マルチユーザ管理装置及び方法
2015/3/11 2015048652 特許 重量選別装置
2015/3/10 2015047340 特許 多段階選別システム
2015/3/10 2015047629 特許 分光装置及び分光方法並びに分析装置
2015/3/4 2015041887 特許 プリント基板および当該基板を用いたプリント基板連結構造
2015/2/26 2015036852 特許 利用帯域決定装置及び方法
2015/2/20 2015032227 特許 ＯＦＤＲ装置および方法
2015/2/18 2015029841 特許 アース接続不良検出装置及びアース接続不良検出方法
2015/2/12 2015025365 特許 デューティ比調整装置及びデューティ比調整方法
2015/2/10 2015024245 特許 ＯＣＴ装置
2015/2/9 2015023045 特許 高周波用チョークコイルおよびその製造方法
2015/2/6 2015022238 特許 誤り率測定装置及び誤り率測定方法
2015/2/4 2015020669 特許 通信システム及び通信方法
2015/1/26 2015012794 特許 移動端末試験装置とそのシナリオ情報設定方法
2015/1/26 2015012795 特許 移動端末試験装置とその状態表示方法
2015/1/23 2015010989 特許 ミリ波帯フィルタ
2015/1/21 2015009227 特許 ＯＦＤＲ装置
2015/1/19 2015007531 特許 エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法
2015/1/7 2015001690 特許 濾波装置および濾波方法
2015/1/6 2015000974 特許 パラメータ設定装置及びパラメータ設定方法
2015/1/5 2015000025 特許 ミリ波帯スペクトラムアナライザ
2014/12/24 2014260818 特許 デジタル信号オフセット調整装置および方法並びにパルスパターン発生装置
2014/12/18 2014255695 特許 移動端末試験装置とそのアップリンク信号試験方法
2014/12/16 2014254136 特許 移動端末試験装置及び移動端末試験方法
2014/12/12 2014252080 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/12 2014252078 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/12 2014252081 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/12 2014252079 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/12 2014251710 特許 導波管スイッチ
2014/12/10 2014249964 特許 電圧設定装置、それを備えたＰＬＬシンセサイザ、信号分析装置及び信号発生装置並びに電圧設定方法
2014/12/9 2014249154 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/5 2014246891 特許 移動端末試験装置とそのパラメータ入替方法
2014/12/4 2014245731 特許 ミリ波帯伝送路変換構造
2014/12/3 2014245129 特許 Ｘ線検査装置
2014/12/2 2014244214 特許 無線端末測定装置及び無線端末測定方法
2014/10/31 2014223567 特許 ミリ波帯伝送路変換構造
2014/10/22 2014215068 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2014/10/16 2014211856 特許 物品検査装置
2014/10/7 2014206500 特許 光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験システム
2014/10/7 2014206497 特許 芯線検査装置および芯線検査方法
2014/10/3 2014204893 特許 物品検査装置
2014/10/2 2014204016 特許 金属検出機
2014/9/30 2014201033 特許 除電装置及び除電方法
2014/9/30 2014201089 特許 物品検査装置
2014/9/30 2014200064 特許 物品検査装置
2014/9/26 2014196169 特許 移動体端末試験装置
2014/9/25 2014195559 特許 Ｘ線検査装置
2014/9/24 2014193791 特許 移動体端末試験装置
2014/9/24 2014193792 特許 移動体端末試験装置
2014/9/19 2016152525 特許 パラメータ設定機能付き試験装置
2014/9/19 2014191201 特許 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置
2014/9/19 2014191205 特許 移動端末試験装置
2014/9/19 2014191202 特許 画像表示装置及び画像表示方法
2014/9/19 2014191207 特許 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置
2014/9/19 2014191206 特許 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置
2014/9/19 2014191203 特許 パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置
2014/9/17 2014189022 特許 試験装置及びその校正方法
2014/9/2 2015535312 特許 レーザ治療装置
2014/9/1 2014177185 特許 濾波装置および濾波方法
2014/9/1 2014177148 特許 測定装置及び測定方法
2014/8/18 2014166004 特許 測定器保護装置および測定器保護方法
2014/8/4 2014158674 特許 出力測定装置用アダプタ
2014/8/4 2014158676 特許 出力測定装置用アダプタ
2014/8/4 2014158675 特許 出力測定装置用アダプタセット
2014/7/31 2014156473 特許 ミリ波帯スペクトラム解析装置およびそれに用いるミリ波帯フィルタの制御情報補正方法
2014/7/18 2014148060 特許 ミリ波帯フィルタ
2014/7/9 2014141567 特許 ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法
2014/7/3 2014137714 特許 測定装置及び測定方法
2014/7/3 2014137713 特許 試験装置及び試験方法
2014/7/2 2014136900 特許 ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法
2014/6/17 2014124270 特許 Ｘ線検査装置
2014/6/10 2014119236 特許 Ｘ線検査装置
2014/6/5 2014116685 特許 Ｘ線検査装置
2014/5/28 2014110217 特許 ミリ波帯フィルタ
2014/4/24 2014089816 特許 Ｘ線検査装置
2014/4/17 2014085323 特許 ミリ波帯用電波ハーフミラーおよびその透過係数平坦化方法
2014/4/10 2014081081 特許 Ｘ線検査装置
2014/4/7 2014078952 特許 ミリ波帯フィルタ
2014/4/7 2014540257 特許 レーザ治療装置
2014/3/31 2014071885 特許 ネットワーク試験装置およびネットワーク試験方法
2014/3/31 2014074125 特許 金属検出装置
2014/3/28 2014068951 特許 試験装置及び試験方法
2014/3/28 2014069662 特許 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置
2014/3/28 2014068953 特許 試験装置及び試験方法
2014/3/28 2014069547 特許 光周波数領域反射測定方法、光周波数領域反射測定装置およびそれを用いた位置または形状を測定する装置
2014/3/28 2014068952 特許 干渉波電力測定装置及び干渉波電力測定方法並びにＳＩＲ測定装置及びＳＩＲ測定方法
2014/3/28 2014070179 特許 Ｘ線検査装置
2014/3/26 2014064056 特許 測定時の競合検出装置及び競合検出方法
2014/3/26 2014063260 特許 Ｘ線検査装置
2014/3/26 2014064055 特許 測定時の競合検出装置及び競合検出方法
2014/3/26 2014063264 特許 Ｘ線検査装置
2014/3/25 2014061456 特許 表示装置および物品検査システム
2014/3/24 2014059828 特許 表示装置およびそれを備えた重量検査システム
2014/3/20 2014057723 特許 測定装置及び測定方法
2014/3/20 2014057946 特許 物品検査装置
2014/3/20 2014057722 特許 測定装置及び測定方法
2014/3/19 2014056514 特許 パケット中継装置
2014/3/18 2014055085 特許 電源制御装置および電源制御方法ならびに測定装置
2014/3/14 2014051102 特許 ミリ波帯フィルタ
2014/3/13 2014050443 特許 金属検出装置
2014/3/12 2014048766 特許 電気特性調整装置及び電気特性調整方法
2014/3/4 2014041714 特許 重量測定装置
2014/2/28 2014038214 特許 重量測定装置
2014/2/27 2014037030 特許 フレーム信号発生装置およびフレーム信号発生方法
2014/2/25 2014003813 意匠 重量測定機
2014/2/24 2014032801 特許 Ｘ線検査装置
2014/2/24 2014032802 特許 Ｘ線検査装置
2014/2/17 2014027612 特許 重量測定装置
2014/2/17 2014027613 特許 搬送装置及び該搬送装置を用いた検査装置
2014/2/14 2014026542 特許 重量測定装置
2014/2/13 2014025546 特許 重量測定装置
2014/2/3 2014018427 特許 シナリオ生成装置、シナリオ生成方法及びシナリオ生成プログラム
2014/2/3 2014018426 特許 シナリオ生成装置、シナリオ生成方法及びシナリオ生成プログラム
2014/1/31 2014016899 特許 信号解析装置および信号解析方法
2014/1/31 2014016907 特許 光パルス試験装置および光パルス試験装置の光強度安定化方法
2014/1/31 2014016898 特許 信号解析装置および信号解析方法
2014/1/30 2014015359 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2014/1/29 2014014181 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2014/1/17 2014002722 商標 ｅｎｖｉｓｉｏｎ：ｅｎｓｕｒｅ
2013/12/26 2013269435 特許 物品検査装置
2013/12/20 2013263355 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2013/12/6 2013253282 特許 金属検出機の診断装置および金属検出機
2013/12/6 2013252774 特許 スイッチ装置及びスイッチ装置制御方法
2013/12/5 2013251957 特許 半導体光増幅器
2013/12/5 2016218651 特許 半導体光増幅器
2013/11/28 2013246267 特許 エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法
2013/11/28 2013245990 特許 移動体端末試験装置および試験方法
2013/11/28 2013246268 特許 エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法
2013/11/21 2013241041 特許 電源制御機能を有する測定システム及び該システムにおける電源制御方法
2013/11/1 2013228528 特許 Ｘ線検査装置
2013/10/30 2013225609 特許 信号解析装置および信号解析方法
2013/10/17 2013216486 特許 Ｘ線検査装置
2013/10/11 2014093803 特許 Ｘ線検査機能付き箱詰め装置
2013/9/30 2013204149 特許 信号分析装置、同期システム、及び同期方法
2013/9/26 2015204424 特許 携帯端末試験装置
2013/9/25 2013197816 特許 バースト信号測定装置および測定方法
2013/9/25 2013197788 特許 信号処理装置、信号分析システム、信号発生システム、信号分析方法、及び信号発生方法
2013/9/11 2013188139 特許 ミリ波帯フィルタおよびミリ波帯の高域減衰方法
2013/9/9 2013186117 特許 移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法
2013/9/3 2013182369 特許 ＮＲＺ信号増幅装置及び方法と誤り率測定装置及び方法
2013/8/30 2013179604 特許 移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法
2013/8/27 2013175204 特許 ミリ波帯フィルタおよびその電磁波漏出防止方法
2013/8/26 2013066197 商標 §Ｆｉｂｅｒ　Ｖｉｓｕａｌｉｚｅｒ
2013/8/16 2013169176 特許 ミリ波変調信号生成装置および生成方法
2013/8/8 2013165044 特許 移動通信端末試験システム及び移動通信端末試験方法
2013/7/31 2013059426 商標 Ｃｏｎｎｅｃｔｏｒ　Ｍａｓｔｅｒ
2013/7/29 2013156775 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線検査装置
2013/7/26 2013155821 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線検査装置
2013/7/16 2013147850 特許 キャリア・アグリゲーション試験方法及びその装置
2013/7/10 2013144634 特許 信号処理装置および信号処理方法
2013/7/4 2013140894 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線検査装置
2013/6/26 2013134004 特許 Ｘ線発生装置及びＸ線検査装置
2013/6/25 2013132903 特許 ＰＬＬシンセサイザ、それを用いた信号分析装置及び信号発生装置、並びに校正方法
2013/6/20 2013047467 商標 ＴＲＡＮＳＰＯＲＴ　ＶＩＳＵＡＬＩＺＥＲ
2013/6/20 2013047496 商標 ＦＩＢＥＲ　ＶＩＳＵＡＬＩＺＥＲ
2013/6/13 2013124580 特許 測定装置、測定システム、及び測定方法
2013/6/11 2013122556 特許 差動信号伝送線路
2013/5/27 2013111012 特許 金属検出機
2013/5/8 2013098441 特許 磁界分布検出装置、心磁計、および金属検出装置
2013/5/7 2013097807 特許 パケット処理方法及びパケット処理装置
2013/4/24 2013090825 特許 移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法
2013/4/22 2013089122 特許 光パルス試験装置
2013/3/29 2013072150 特許 磁気同調デバイス駆動装置及びそれを用いた信号分析装置並びに磁気同調デバイス駆動方法
2013/3/28 2013068970 特許 信号解析装置及び信号解析方法
2013/3/28 2013068971 特許 ミリ波帯用電波ハーフミラー及びその透過率平坦化方法
2013/3/28 2013069535 特許 ミリ波帯スペクトラム解析装置および解析方法
2013/3/28 2013069529 特許 ミリ波帯スペクトラム解析装置
2013/3/21 2013057886 特許 金属検出装置
2013/3/19 2013056067 特許 ネットワーク試験装置及びネットワーク試験方法
2013/3/4 2013041608 特許 信号品質評価装置および評価方法
2013/2/27 2013037376 特許 フェージングシミュレータ及びフェージングシミュレーション方法
2013/2/25 2013034862 特許 ＬＴＥ－Ａｄｖａｎｃｅｄ方式の試験用信号発生装置および発生方法
2013/2/18 2013029243 特許 電波サービスエリア評価装置及び電波サービスエリア評価方法
2013/2/18 2013028870 特許 信号生成装置及びそれを備えた移動通信端末試験装置並びに信号生成方法及び移動通信端末試験方法
2013/2/15 2013027325 特許 半導体レーザモジュール
2013/2/5 2013020535 特許 携帯端末試験用接続装置の校正システムおよび校正方法
2013/2/4 2013019447 特許 試験装置及び試験方法
2013/1/31 2013017046 特許 ジッタ測定用トリガ発生器を用いたジッタ測定装置及びジッタ測定方法
2013/1/30 2013015777 特許 Ｘ線検査装置
2013/1/25 2013012199 特許 試験装置および試験表示方法
2013/1/24 2013011276 特許 Ｘ線検査装置
2013/1/23 2013010250 特許 物品検査装置
2013/1/18 2013007929 特許 シナリオ生成装置、シナリオ生成方法およびシナリオ生成プログラム
2013/1/18 2013007931 特許 試験装置及び試験方法
2013/1/18 2013007930 特許 試験装置及び試験方法
2013/1/17 2013006174 特許 測定装置及び測定方法
2013/1/10 2013002759 特許 Ｘ線検査装置

アンリツ株式会社の政府届出情報

  • 総務省   〜2019-03-31
    一般・産業用機器類,電気・通信用機器類,精密機器類,防衛用装備品類,その他,一般・産業用機器類,電気・通信用機器類,電子計算機類,精密機器類,防衛用装備品類,その他,広告・宣伝,写真・製図,調査・研究,情報処理,ソフトウェア開発,建物管理等各種保守管理,電子出版,防衛用装備品類の整備,その他：物品の製造（その他）

アンリツ株式会社の政府調達情報

  • 2016-04-01   総務省
    ３００ＧＨｚ帯無線信号の広帯域・高感度測定技術の研究開発：301,999,500円
  • 2015-06-29   国家公安委員会（警察庁）
    Ｂ−１Ｄ形受信機点検業務：2,008,469円

アンリツ株式会社の政府表彰履歴

  • 厚生労働省   
    両立支援のひろば　一般事業主行動計画公表
  • 厚生労働省   ２０１５年
    次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定
  • 厚生労働省   
    ポジティブアクション
近隣（神奈川県厚木市）の法人情報
  • 株式会社ベルクト
    株式会社ベルクトの所在地は神奈川県厚木市松枝１丁目３番１６号で、2024-04-26に法人番号：9021001082100が指定されました。
  • 株式会社ＳＥＲｉＤＥＮ
    株式会社ＳＥＲｉＤＥＮの所在地は神奈川県厚木市上依知２６７番地９で、2024-04-26に法人番号：9021001082091が指定されました。
  • 一般社団法人相模読売会
    一般社団法人相模読売会の所在地は神奈川県厚木市旭町１丁目２２番２０号で、2015-10-05に法人番号：3021005004493が指定されました。
  • 有限会社山根建設
    有限会社山根建設の所在地は神奈川県厚木市旭町４丁目２番１０号で、2015-10-05に法人番号：3021002033561が指定されました。
  • ＪＤＭ　ＳＨＯＫＡＩ合同会社
    ＪＤＭ　ＳＨＯＫＡＩ合同会社の所在地は神奈川県厚木市林４丁目６番７号カーサフロレスタ１０１で、2024-04-24に法人番号：8021003014416が指定されました。
  • 松本建築株式会社
    松本建築株式会社の所在地は神奈川県厚木市山際５９２番地３で、2024-04-24に法人番号：4021001082055が指定されました。
  • 有限会社高柳塗装店
    有限会社高柳塗装店の所在地は神奈川県厚木市妻田北２丁目２４番８号で、2015-10-05に法人番号：8021002032377が指定されました。
  • 株式会社Ｍｉｒａｉガス
    株式会社Ｍｉｒａｉガスの所在地は神奈川県厚木市岡田４丁目３番７－１０８号で、2024-04-23に法人番号：6021001082045が指定されました。
  • 合同会社ＴＴコーポレーション
    合同会社ＴＴコーポレーションの所在地は神奈川県厚木市田村町５番３０号厚木ハイムＢ０２で、2019-12-10に法人番号：8020003017049が指定されました。
  • 株式会社Ｓｈｉｎｒａｉ
    株式会社Ｓｈｉｎｒａｉの所在地は神奈川県厚木市戸田２３３８番地３で、2024-04-22に法人番号：2021001082049が指定されました。
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