株式会社堀場製作所 - 京都府京都市南区

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株式会社堀場製作所の基本データ

商号又は名称 株式会社堀場製作所
商号又は名称（フリガナ） -
法人番号 1130001011676
法人種別 株式会社
都道府県 京都府
市区町村 京都市南区
郵便番号 〒6018305
登記住所 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地
最寄り駅 JR東海道本線 西大路駅 0.8km 徒歩11分以上
登録年月日 2015/10/05
更新年月日 2018/04/25
更新区分 新規
概要 株式会社堀場製作所の法人番号は1130001011676です。
株式会社堀場製作所の法人種別は"株式会社"です。
登記上の所在地は、2018/04/25現在 〒6018305 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地 となっています。
"JR東海道本線 西大路駅 0.8km 徒歩11分以上" が最寄り駅の情報となります。
周辺に4件のカフェ情報 [喫茶ヒロ、クラウン 八条店、マクドナルド 京都吉祥院店、タクト]
4件の宿情報 [京の宿西大路、オレンジ・イン、御宿　西七条、Guesthouse　KYOTO　COMPASS] があります。
株式会社堀場製作所は、2015/10/05に法人番号が新規登録されています。
位置情報：京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地
カフェ 株式会社堀場製作所周辺のカフェなど
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宿 株式会社堀場製作所周辺の宿・ホテル
  • hotel0  京の宿西大路  民宿  京都府京都市下京区七条御所ノ内北町４７－１ check-in：15:00/11:00
  • hotel1  オレンジ・イン  旅館  京都府京都市下京区西七条北衣田町８ check-in：15:00/10:00
  • hotel2  御宿　西七条  コンドミニアム  京都府京都市下京区西七条北西野町２ check-in：16:00/10:00
  • hotel3  Guesthouse　KYOTO　COMPASS  民宿  京都府京都市下京区西七条市部町１１５ check-in：16:00/11:00
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株式会社堀場製作所周辺の天気情報

京都市南区の予測雨量
04/26 04:05現在0（mm/h） 04/26 05:05予測0（mm/h）
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今日 04月25日(木) 明日 04月26日(金)
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株式会社堀場製作所の株式上場データ

マーケット 東証一部
業種 電気機器
証券コード6856
上場年月日1971年3月
決算月12月末日

株式会社堀場製作所の法人詳細データ

代表者名 代表取締役社長　　足立　正之
法人名ふりがな ほりばせいさくしょ
資本金 12,011,000,000円
従業員数 1,814人
企業規模 男性：1,195人  女性：591人
設立年月日 1953年1月26日
事業概要 環境・分析、自動車、メディカル、ナノテク、バイオ、ＩＴ、ユーティリティなど、あらゆる産業を支える分析・計測機器の総合メーカー。 自動車排ガス測定装置では圧倒的世界シェア８０％。
事業項目 118,119,121,129,218,219,221,229,303,309,315
企業ホームページ  http://www.horiba.co.jp

株式会社堀場製作所の大株主の状況

企業名もしくは出資者 出資比率（％）
日本マスタートラスト信託銀行株式会社（信託口） 13
株式会社日本カストディ銀行(信託口） 7.59
全国共済農業協同組合連合会 （常任代理人　日本マスタートラスト信託銀行株式会社） 3.98
堀場　厚 2.58
京都中央信用金庫 1.98
堀場洛楽会投資部会 1.97
株式会社京都銀行 （常任代理人　株式会社日本カストディ銀行） 1.96
堀場グループ従業員持株会 1.8
堀場　弾 1.53
BBH (LUX）FOR FIDELITY FUNDS - SUSTAINABLE WATER AND WASTE POOL （常任代理人　株式会社三菱UFJ銀行） 1.52

株式会社堀場製作所の経営指標の推移

 当期 第86期（自　2023年１月１日　至　2023年12月31日）
当期（円）
売上高 54,620,000,000
経常利益又は経常損失（△） 24,040,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 22,731,000,000
資本金 12,011,000,000
純資産 134,124,000,000
総資産 224,577,000,000
従業員数 1,510 人
1期前（円）
売上高 51,923,000,000
経常利益又は経常損失（△） 16,029,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 14,562,000,000
資本金 12,011,000,000
純資産 119,681,000,000
総資産 223,047,000,000
従業員数 1,484 人
2期前（円）
売上高 50,013,000,000
経常利益又は経常損失（△） 9,672,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 1,900,000,000
資本金 12,011,000,000
純資産 113,223,000,000
総資産 221,751,000,000
従業員数 1,542 人
3期前（円）
売上高 50,085,000,000
経常利益又は経常損失（△） 8,228,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 7,258,000,000
資本金 12,011,000,000
純資産 114,661,000,000
総資産 214,207,000,000
従業員数 1,623 人
4期前（円）
売上高 64,029,000,000
経常利益又は経常損失（△） 13,695,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 11,816,000,000
資本金 12,011,000,000
純資産 111,940,000,000
総資産 207,503,000,000
従業員数 1,702 人

株式会社堀場製作所の職場データ

平均勤続年数（男女） 男性：17年 女性：13年
管理職全体人数（男女計） 275人
女性管理職人数 25人
役員全体人数（男女計） 12人
女性役員人数 2人

株式会社堀場製作所の特許情報  359件

出願年月日 出願番号 特許分類 タイトル
2022/3/23 2022006030 意匠 差圧式流量計用の圧力測定管
2022/2/21 2022019299 商標 Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔ　Ｌａｂ
2022/1/12 2022002221 商標 ＨｙＥＶＯ
2021/12/6 2021151423 商標 ＰＤ　Ｘｐａｄｉｏｎ
2021/12/3 2021150698 商標 ＳｍａｒｔＣｏｌｕｍｎ
2021/11/24 2021146017 商標 Ａｎｔｓｅｎｓｅ　ＤＵＯ　ＶＥＴ
2021/11/8 2021138574 商標 Ｆｌｕｏｒｏｌｏｇ
2021/9/17 2021116477 商標 ジョバンイボン
2021/7/29 2021124534 特許 放射線検出素子の製造方法
2021/5/20 2021061482 商標 §ＮＮＮ
2021/5/10 2021056138 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＴＥＳＴＷＯＲＫ
2021/4/20 2021048036 商標 ＬｉＣｈＲａ
2021/4/20 2021048035 商標 §ＬＲ
2020/12/15 2020154572 商標 Ｘ－ＨＶＥ
2020/11/2 2020135334 商標 ＬＡＱＵＡ－ＰＨ－ＳＥ
2020/10/12 2020125876 商標 ＥＭＩＣＬＥＡＮ
2020/7/22 2020090871 商標 ＸＬＡ
2020/4/1 2020065559 特許 動的状態観測システム
2020/4/1 2020035456 商標 ＰＬＧＡ
2020/3/16 2020005135 意匠 温度表示機能付き電子計算機
2020/3/16 2020005144 意匠 温度表示機能付き電子計算機
2020/3/9 2020025212 商標 Ｘ－ＯＰＳ
2020/3/9 2020025211 商標 ＴｒｕｅＤａｔａ
2020/2/18 2020017069 商標 ＬａｂＲＡＭ　Ｓｏｌｅｉｌ
2019/12/23 2019232071 特許 相互作用検出方法、相互作用検出装置及びバイオチップ再生キット
2019/12/20 2019230176 特許 分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法
2019/12/4 2020559984 特許 Ｘ線分析装置、Ｘ線分析システム、分析方法、及びプログラム
2019/11/29 2019026605 意匠 オイルミストセンサ
2019/11/29 2019026631 意匠 オイルミストセンサ
2019/11/25 2019212365 特許 測定装置、及び、制御方法
2019/11/20 2020557599 特許 電解液分析方法及び電解液分析装置
2019/9/27 2020556679 特許 粒子物性測定に用いられる光学測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置
2019/9/26 2019126001 商標 ＤＡＲ
2019/9/25 2020562362 特許 Ｘ線導管の製造方法
2019/9/17 2019168550 特許 排ガス分析装置、排ガス分析方法、及び補正式作成方法
2019/8/27 2020548211 特許 元素検出方法、元素検出装置、及びコンピュータプログラム
2019/8/6 2020559705 特許 分析装置及び分析方法
2019/6/28 2019121616 特許 分析装置及び分析方法
2019/6/25 2019117758 特許 分析装置、分析方法及び分析装置用プログラム
2019/5/27 2020522174 特許 粒子撮像装置、粒子径測定装置、複式粒子径測定装置、コンピュータプログラム、粒子観察方法、及び複式粒子測定装置
2019/5/27 2020522169 特許 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
2019/5/21 2019095529 特許 台車、自動運転システム及び収納方法
2019/5/14 2019091716 特許 自動運転装置
2019/3/14 2019047781 特許 検出装置及びスペクトル生成装置
2019/3/14 2019047780 特許 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置
2019/3/8 2019043099 特許 半導体レーザ装置、及び分析装置
2019/3/8 2019043100 特許 供試体試験装置
2019/2/28 2019035313 特許 三次元画像生成装置、及び三次元画像生成装置の係数算出方法
2018/12/27 2018244469 特許 ガス分析装置、ガス分析用プログラム、及びガス分析方法
2018/12/27 2019562163 特許 粒子形状分析方法、顕微鏡および顕微鏡システム
2018/12/27 2018245040 特許 分析装置、分析方法、及びプログラム
2018/12/20 2018238804 特許 試料前処理装置及び分析システム
2018/12/19 2018237735 特許 粒子径表示装置、粒子径表示方法および粒子径表示システム
2018/12/14 2018234772 特許 光学分析装置、並びに光学分析装置に用いられる機械学習装置及びその方法
2018/12/14 2019559218 特許 放射線検出器及び放射線検出装置
2018/12/14 2019559215 特許 シリコンドリフト型放射線検出素子、シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置
2018/12/13 2018233344 特許 排ガス分析システム及び排ガス分析方法
2018/12/12 2019559678 特許 判別方法、学習方法、判別装置及びコンピュータプログラム
2018/12/12 2018232931 特許 保持装置及びそれが備える搭載台の固定方法
2018/12/10 2018230563 特許 粒子数計測装置及び粒子数計測方法
2018/11/14 2018213727 特許 粒子径分布測定装置の補正方法、粒子径分布測定装置の校正方法、粒子径分布測定装置、及び、ガス分析システム
2018/10/26 2018201795 特許 ガス分析装置及びガス分析方法
2018/10/25 2018201219 特許 Ｘ線検出装置及びＸ線検出方法
2018/10/10 2018191751 特許 分析装置
2018/10/2 2018187071 特許 流量測定装置及び流量測定方法
2018/9/28 2018183591 特許 分析装置及び分析方法
2018/9/27 2022054044 特許 多重反射セル、ガス分析装置、及び多重反射セルの構成方法
2018/9/27 2018182976 特許 多重反射セル、ガス分析装置、及び多重反射セル用ミラーの製造方法
2018/9/21 2018177275 特許 ブレーキ試験システム、ブレーキ試験方法及びブレーキ試験システム用のプログラム
2018/9/20 2019558913 特許 半導体レーザ装置、半導体レーザ装置の駆動方法及び駆動プログラム
2018/9/14 2019558910 特許 半導体レーザ
2018/9/12 2018170457 特許 粒子分析装置
2018/9/10 2019541048 特許 試料分散装置
2018/8/28 2019539542 特許 エクソソーム表面分子を特定する方法
2018/8/28 2018158949 特許 分析方法、分析用セル、及び分析装置
2018/8/7 2018100804 商標 ＴＩＬＳ
2018/8/1 2019535138 特許 分析装置、分析方法、分析装置用プログラム及び分析用学習装置
2018/7/31 2018097787 商標 ＦＴＸ
2018/7/31 2018097790 商標 ＦＴＸ－ＯＮＥ
2018/7/23 2018137835 特許 分析装置及び容器供給装置
2018/7/13 2019529806 特許 担体に固相化された真核細胞膜またはエクソソームの表面分子に対する結合性タンパク質への非特異的結合を抑制する方法
2018/7/13 2018133189 特許 分析装置、システム、分析方法、及びプログラム
2018/7/12 2018132706 特許 ルミネッセンス分析装置
2018/7/12 2018132685 特許 ルミネッセンス採光装置
2018/7/12 2018132206 特許 試料分析装置、電子顕微鏡、及び集光ミラーユニット
2018/7/4 2018127873 特許 シャシダイナモメータ装置、その制御方法、及び、シャシダイナモメータ装置用プログラム
2018/6/29 2018014444 意匠 ガス分析計
2018/6/18 2018115604 特許 流体制御装置、及び、流量比率制御装置
2018/5/29 2018102139 特許 薬剤分析に用いられる検量線設定方法
2018/5/28 2019523462 特許 放射線検出器及び放射線検出装置
2018/5/21 2018097181 特許 排ガス分析方法及び排ガス分析システム
2018/5/18 2018064839 商標 Ｔｅｓｔ　ｉｎ　ｔｈｅ　Ｌｏｏｐ
2018/5/18 2018096588 特許 半導体レーザ素子の製造方法及びその半導体レーザ装置並びにガス分析装置
2018/5/15 2018093475 特許 ボンベ管理システム、ボンベ管理プログラム及びガスリーク検出システム
2018/5/14 2018092765 特許 稼働率解析システム、稼働率解析プログラム、及び、稼働率解析方法
2018/5/1 2019517580 特許 無人航空機
2018/4/17 2019529452 特許 ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法
2018/4/6 2018074236 特許 粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法および粒子径分布測定用プログラム
2018/3/19 2018051266 特許 分光装置、ハイパースペクトル測定システム、及び、分光方法
2018/2/16 2018018894 商標 スマートＩＤ連携
2018/2/13 2018002884 意匠 エックス線分析計
2018/2/13 2018002898 意匠 エックス線分析計
2018/2/13 2018002899 意匠 エックス線分析計
2018/2/7 2018020567 特許 検査オーダー処理装置、そのためのコンピュータープログラム、および、検査システム
2017/12/27 2017252486 特許 排ガスサンプリング装置、排ガス分析システム、排ガスサンプリング方法、及び排ガスサンプリング用プログラム
2017/12/20 2018558028 特許 分析装置、分析システム、分析方法、及びプログラム
2017/12/15 2017240826 特許 検査装置、検査方法及び検査システム
2017/12/15 2017240867 特許 半導体レーザ装置及びその製造方法並びにガス分析装置
2017/12/11 2018556658 特許 尿素水のアルカリ度評価方法
2017/12/11 2017237256 特許 分析装置
2017/12/4 2017232327 特許 粒子物性測定用セル及びこれを用いた粒子物性測定装置
2017/12/4 2018556591 特許 車両性能評価システム、車両性能評価システム用情報処理装置、車両性能評価方法、及び車両性能評価システム用記録媒体
2017/11/28 2018556538 特許 放射線検出装置
2017/11/27 2018556535 特許 放射線検出装置
2017/11/27 2018556532 特許 放射線検出装置及びコンピュータプログラム
2017/11/8 2017215976 特許 ラマンイメージング装置、ラマンイメージングシステム、ラマンイメージング方法、及び、ラマンイメージング装置用プログラム
2017/11/6 2017214121 特許 ガス分析装置の校正方法、ガス分析システム、及び、圧力変動装置
2017/10/30 2018551559 特許 粒子径分布測定装置、粒子径分布測定方法、及び粒子径分布測定装置用プログラム
2017/10/27 2018551552 特許 放射線検出器及び放射線検出装置
2017/10/27 2018556237 特許 車両試験システム、車両試験システム用制御装置、車両試験システム制御方法、及び車両試験システム用プログラム
2017/10/26 2018556233 特許 車両走行試験システム、車両走行試験システム用プログラム、及び車両速度パターン表示方法
2017/10/20 2018556225 特許 比較電極ユニット
2017/10/13 2017199894 特許 排ガス分析装置、排ガス計測方法、排ガス分析装置用プログラム、及び、排ガス分析装置の校正方法
2017/10/12 2018545046 特許 分光器、及び、それを備えた顕微鏡
2017/10/11 2018545017 特許 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
2017/10/6 2018551072 特許 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
2017/10/3 2017193620 特許 分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法
2017/10/3 2017193890 特許 多重反射セル及びガス分析装置
2017/9/28 2018552439 特許 模擬ガス発生装置、評価装置及び模擬ガス発生方法
2017/9/22 2018540327 特許 元素分析装置及び元素分析方法
2017/9/14 2017176638 特許 流体分析装置及び流体分析方法
2017/9/14 2017176640 特許 ガス分析装置及びガス分析方法
2017/9/13 2017019981 意匠 血液分析器
2017/9/12 2018556183 特許 免疫凝集反応を用いた濃度測定における被験物質濃度の適正性の判定方法およびそのための処理部を有する試料分析装置
2017/9/12 2017120902 商標 ＩＲＬＡＭ
2017/9/12 2018556184 特許 粒子計数装置
2017/9/6 2017117790 商標 Ｒ―ＣＬＵＥ
2017/9/6 2017117788 商標 Ｆ―ＣＬＵＥ
2017/9/6 2017117787 商標 ｉ―ＣＬＵＥ
2017/9/6 2017117789 商標 Ｈ―ＣＬＵＥ
2017/9/1 2017168234 特許 排ガス分析装置、排ガス分析方法及び排ガス分析用プログラム
2017/8/31 2017166784 特許 分光分析装置及び分光分析方法
2017/8/24 2017111366 商標 ＥＭＩＡ―Ｓｔｅｐ
2017/8/14 2018554817 特許 ガス分析装置及びガス分析方法
2017/8/9 2018554816 特許 車両試験システム、車両試験システム用管理装置、車両試験システム用プログラム、及び車両試験方法
2017/8/8 2018534366 特許 有機化合物分析装置、抗体分析装置、抗体分析方法、及び、抗体分析装置用プログラム
2017/7/20 2017141224 特許 植物育成システム、植物育成方法および植物育成システム用プログラム
2017/7/14 2017138408 特許 分析装置
2017/7/14 2017138554 特許 車両駆動系試験システム及び車両駆動系試験方法
2017/7/14 2017138276 特許 ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法
2017/7/14 2017138411 特許 検体分析装置
2017/7/14 2017137926 特許 恒温槽、試験システム、及び試験方法
2017/7/14 2017138407 特許 粒子分析装置における光照射を調整するためのモニター装置
2017/7/12 2017136205 特許 放射線検出装置、放射線検出方法及びコンピュータプログラム
2017/7/12 2017136608 特許 粒子分析装置、粒子分析システム、及び、粒子分析方法
2017/7/7 2017134023 特許 放射線検出素子、放射線検出器及び放射線検出装置
2017/6/30 2018525309 特許 探針の製造方法及び探針
2017/6/15 2017118004 特許 除去部材、校正装置、及びガス分析装置
2017/6/15 2017117462 特許 光検出器の出力補正用演算式の算出方法、及び光検出器の出力補正方法
2017/6/2 2017110370 特許 軸合わせモジュール、供試体試験装置、及び軸合わせ方法
2017/5/24 2017102802 特許 プローブデバイス、及び、排ガス分析装置
2017/5/24 2017102703 特許 排ガス分析装置及び排ガス分析方法
2017/5/19 2017068295 商標 ＲＤＥ＋
2017/5/19 2017100345 特許 車両走行試験システム、車両走行試験システム用プログラム、及び車両走行試験方法
2017/5/19 2017100346 特許 車両試験システム、車両試験システム用プログラム、車両試験方法、及び走行抵抗設定装置
2017/5/9 2018517038 特許 粒子分析装置、及び、粒子分析システム
2017/4/21 2018536929 特許 信号分析装置、信号分析方法、コンピュータプログラム、測定装置及び測定方法
2017/4/11 2018514250 特許 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置
2017/4/11 2018514249 特許 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置
2017/3/31 2017070551 特許 分光分析装置及び分光分析方法
2017/3/31 2017070648 特許 ガス分析装置及びガスサンプリング装置
2017/3/30 2017068980 特許 ガス分析装置
2017/3/15 2017050230 特許 作成方法、グロー放電発光分析方法、器具、及びグロー放電発光分析装置
2017/2/14 2017025146 特許 濃度測定方法、濃度測定用プログラム、濃度測定システム、及び濃度測定装置
2017/2/1 2017016438 特許 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定方法
2017/1/27 2017563837 特許 試料分析装置及び試料分析装置用集光ミラーユニット
2017/1/19 2017007892 特許 測定機器のための管理装置
2017/1/19 2017007891 特許 測定機器のための管理装置
2016/12/22 2021082617 特許 半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置
2016/12/22 2016249917 特許 半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置
2016/12/22 2016249916 特許 半導体検出器、放射線検出器及び放射線検出装置
2016/12/16 2016244163 特許 元素分析装置及び元素分析方法
2016/12/16 2016244164 特許 元素分析装置及び元素分析方法
2016/12/14 2016242314 特許 車載型排ガス分析システム、車載型排ガス分析システムの検査システム、及び、車載型排ガス分析システムの検査方法
2016/12/13 2017556069 特許 分光器、光学検査装置、及び、ＯＣＴ装置
2016/12/13 2017556068 特許 Ｘ線管、及び、Ｘ線分析装置
2016/12/13 2017556070 特許 粒子分析装置及び粒子分析方法
2016/12/12 2017556050 特許 担体に固相化された抗体から微生物、細胞、該微生物もしくは該細胞が分泌する小胞またはウイルスを除去する方法
2016/12/12 2016240363 特許 排ガス流量測定装置、燃費測定装置、排ガス流量測定装置用プログラム、及び排ガス流量測定方法
2016/12/9 2017556029 特許 対象物を回転させる装置
2016/12/9 2017556016 特許 バーコード位置特定装置およびそのためのコンピュータプログラム
2016/12/8 2016238425 特許 測定装置
2016/12/7 2017555096 特許 分析装置
2016/11/29 2016231183 特許 排ガス測定装置、排ガス測定装置に搭載されるプログラム及び排ガス測定装置の制御方法
2016/11/29 2016231230 特許 多重反射型セル、分析装置、排ガス分析装置、及び、光の入射方法
2016/11/25 2016229218 特許 排ガス計測システム
2016/11/8 2016218040 特許 試料分析装置及び試料分析プログラム
2016/10/25 2017547806 特許 検査オーダー処理装置およびそれを用いた検査システム
2016/10/21 2017545812 特許 粒子分析装置、及び、粒子分析方法
2016/10/21 2017545813 特許 磁化率測定装置、及び、磁化率測定方法
2016/9/30 2016194149 特許 車両速度パターン表示装置、この装置に用いられるプログラム、走行試験方法、及び自動運転装置
2016/9/7 2016097793 商標 はかるＬＡＢ
2016/9/2 2017538123 特許 ラマン散乱光測定装置
2016/8/31 2016170291 特許 分析装置、水銀の除去方法、焼却炉システム、及び、プログラム
2016/8/31 2016170331 特許 流量計検査システム及び流量計検査方法
2016/8/23 2016091868 商標 Ｉｍａｇｉｎｇ　ＣＬ
2016/7/4 2016132771 特許 放射温度計
2016/6/24 2016068738 商標 §ＨＥＬＱ
2016/6/2 2016059954 商標 ＨＡＬ
2016/6/2 2016059953 商標 ＡＱＵＡ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2016/6/2 2016059952 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＡＱＵＡ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2016/6/2 2016059949 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＦＬＥＥＴ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2016/6/2 2016059951 商標 §Ｓ
2016/6/2 2016059950 商標 ＦＬＥＥＴ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2016/5/24 2016103451 特許 排ガス分析システム、排ガス分析システム用プログラム、及び排ガス分析方法
2016/5/24 2016055839 商標 ＰＦＳ
2016/5/19 2016054504 商標 ＦＬＥＥＴ　ＣＯＮＮＥＣＴ
2016/4/19 2016083921 特許 放射線検出器及び放射線検出装置
2016/4/15 2016043522 商標 ＩＴＦＭ
2016/4/1 2016074604 特許 多重反射型セル及び分析装置
2016/3/17 2016053306 特許 試料導入装置
2016/3/1 2016038932 特許 排ガス計測装置
2016/3/1 2016038933 特許 排ガス計測装置及び排ガス計測方法
2016/2/22 2017504948 特許 模擬運転システム及び制御装置
2016/2/22 2016560931 特許 車両試験装置、車両試験方法及び車両試験装置用プログラム
2016/1/22 2016011005 特許 粒子分析装置、粒子分析方法及び粒子分析プログラム
2016/1/20 2016005516 商標 ＭＥＤＩＳＩＤＥ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2016/1/20 2016005512 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＭＥＤＩＳＩＤＥ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2015/12/15 2020067400 特許 燃料電池車試験システム
2015/12/15 2015244095 特許 燃料電池車試験システム
2015/12/15 2015122996 商標 ＢＬＩ
2015/12/15 2015243838 特許 車両試験装置及び車両試験装置に用いられる模擬車輪
2015/12/15 2015243842 特許 燃料タンク温調装置及び蒸散ガス測定システム
2015/12/14 2015243583 特許 比較電極
2015/12/14 2015243568 特許 吸光度計
2015/12/14 2015243581 特許 測定装置
2015/12/11 2015242108 特許 測定装置
2015/12/11 2015242527 特許 分析装置、分析方法、及びプログラム
2015/12/1 2015234659 特許 比較電極システム
2015/11/26 2016561941 特許 液体分析計、液体分析システム
2015/10/22 2015207619 特許 移動体搭載型の排ガス分析システム
2015/9/30 2016554035 特許 ガス分析装置
2015/9/25 2015092615 商標 Ｅ－ＨＡＲＢＯＲ
2015/9/25 2015092617 商標 Ｅ－ＩＳＬＡＮＤ
2015/9/25 2015092616 商標 §ＥＢＥＨ＼§ＨＢＥＨ
2015/9/1 2015172229 特許 蛍光Ｘ線分析装置、蛍光Ｘ線分析方法及びコンピュータプログラム
2015/8/28 2015169375 特許 低濃度ＢＨＦ溶液の濃度測定装置及び測定方法
2015/8/28 2015083113 商標 Ｅ－ＬＡＢ
2015/8/28 2015169328 特許 シャシダイナモ装置
2015/8/27 2015168351 特許 放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム
2015/8/21 2016546418 特許 電動モータ試験システム
2015/8/11 2015158666 特許 高度検出装置、負荷・駆動装置および高度検出方法
2015/8/4 2015074678 商標 Ｅ－ＩＳＬＡＮＤ
2015/7/24 2015146359 特許 分光分析器に用いられる光検出器の出力補正方法
2015/7/15 2015067300 商標 §ＥＢＥＨ
2015/7/3 2015063564 商標 ＨＡＬ
2015/7/3 2015063563 商標 ＡＱＵＡ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2015/7/3 2015063562 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＡＱＵＡ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2015/6/30 2015131175 特許 放射線測定ユニット及び放射能濃度測定装置
2015/6/17 2015122263 特許 グロー放電発光分析装置、試料ホルダ及びグロー放電発生方法
2015/6/12 2015013127 意匠 血液分析器
2015/6/4 2015114147 特許 ＣＯ２濃度計用ゼロガス精製器及びＣＯ２濃度計測システム
2015/5/18 2015101046 特許 車両試験システム
2015/5/15 2015099704 特許 排ガス採取機構及び排ガス分析装置
2015/5/12 2015097090 特許 車両試験システム、試験管理装置、試験管理プログラム及び車両試験方法
2015/5/1 2015094179 特許 路上走行試験装置
2015/5/1 2018066878 特許 路上走行試験装置、記録媒体、及び路上走行試験方法
2015/4/30 2015093666 特許 排ガス分析装置
2015/4/23 2015088548 特許 放射線検出器及び放射線検出装置
2015/4/23 2015088549 特許 放射線検出装置及び放射線検出器
2015/4/22 2015087592 特許 オイルミスト検出装置、オイルミスト検出方法
2015/4/14 2016513785 特許 試料分散装置、試料分散方法
2015/4/8 2015007958 意匠 排ガス分析計
2015/4/8 2015007960 意匠 排ガス分析計
2015/3/31 2015073780 特許 比較電極、その比較電極を用いた測定方法及び測定システム、複合電極、液体分析計
2015/3/20 2015058695 特許 排ガスサンプリング装置
2015/3/18 2015024149 商標 ＧＡＴＥＬＩＮＫ
2015/2/4 2016504020 特許 検出器及び電子検出装置
2015/2/4 2016504021 特許 Ｘ線分析装置及びコンピュータプログラム
2015/1/30 2015017491 特許 光学分析用セル及びこれを用いた粒子径分布測定装置
2014/12/26 2014264184 特許 分析装置
2014/12/24 2014108778 商標 ＣＯＮＣＥＰＴ
2014/12/17 2014255659 特許 試料分析システム
2014/11/17 2014233025 特許 吸光分析装置及びその検量線作成方法
2014/11/7 2014227164 特許 干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム
2014/11/7 2014227166 特許 干渉計、干渉計を用いた分光光度計及び干渉計の制御プログラム
2014/10/29 2015545263 特許 分析装置
2014/10/27 2014218275 特許 排ガス分析システム及びポンプ装置
2014/9/24 2015539234 特許 運転モード表示装置、運転モード表示用プログラム及び車両試験システム
2014/9/2 2014178588 特許 液体分析計及び液体分析システム
2014/9/2 2014178580 特許 光学分析装置
2014/8/22 2014169323 特許 燃料流量測定装置
2014/7/18 2014147744 特許 粒子分析装置
2014/7/2 2014136485 特許 ガンマカメラ調整装置、ガンマカメラシステム
2014/6/20 2014127753 特許 比較電極
2014/6/11 2014120980 特許 光学測定セル及び光学分析計
2014/5/29 2014110991 特許 ガス分析用前処理装置
2014/5/20 2014104787 特許 分析装置及び校正方法
2014/5/20 2014104789 特許 分析装置及び校正方法
2014/5/19 2014103854 特許 車両試験システム、試験条件データ生成装置及び試験条件データ生成プログラム
2014/5/16 2014102744 特許 排ガス分析システム、排ガス分析装置及び加熱管ユニット
2014/5/12 2014098697 特許 分析装置
2014/5/9 2014036853 商標 Ｅ－ＨＡＲＢＯＲ
2014/4/30 2014009525 意匠 排ガス分析計
2014/4/18 2014086107 特許 比較電極
2014/4/18 2014086106 特許 測定システム
2014/4/18 2014086108 特許 電極装置
2014/3/31 2014073502 特許 グロー放電発光分析方法
2014/2/18 2014028671 特許 放射線透過窓、放射線検出器及び放射線検出装置
2014/1/30 2014015978 特許 グロー放電分光分析装置、試料支持体及び試料押圧電極
2013/12/27 2013273310 特許 触媒評価装置
2013/12/27 2013272744 特許 車両駆動系試験装置
2013/12/27 2013273411 特許 ガス分析装置
2013/12/27 2013273215 特許 触媒評価装置
2013/12/20 2013264588 特許 分光装置
2013/11/28 2013246491 特許 排ガス測定装置及び排ガス測定プログラム
2013/10/22 2013218793 特許 排ガス採取装置及び排ガス分析システム
2013/9/24 2013074363 商標 ＦＬＥＥＴ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2013/9/24 2013074362 商標 ＨＯＲＩＢＡ　ＦＬＥＥＴ　ＬＩＮＫＡＧＥ
2013/9/24 2013196446 特許 運転モード表示装置及び車両モード表示用プログラム
2013/9/17 2013191364 特許 マルチイオンセンサ
2013/9/2 2013181657 特許 油分測定装置
2013/9/2 2013180920 特許 ガラス電極の応答ガラス用洗浄キット及びガラス電極の応答ガラス洗浄方法
2013/8/23 2013173312 特許 プログラム、情報処理装置及び情報処理方法
2013/8/12 2013167302 特許 燃料消費量測定装置
2013/8/12 2013167426 特許 燃料消費量演算装置、燃料消費量演算プログラム及び燃料消費量測定装置
2013/7/31 2014528184 特許 増幅器及び放射線検出器
2013/7/29 2013157069 特許 水質分析装置及び水質分析方法
2013/7/29 2013157207 特許 液体分析装置
2013/7/29 2013157070 特許 液体計量装置及び水質分析装置
2013/7/18 2013055701 商標 Ａｎｔｓｅｎｓｅ　ＤＵＯ
2013/7/12 2013146959 特許 濃度測定装置
2013/6/26 2013049366 商標 ＲＥＡＤＯＵＴ
2013/6/26 2013049365 商標 ＬＡＱＵＡａｃｔ
2013/6/24 2013132141 特許 粒子径分布測定装置
2013/6/24 2017214108 特許 粒子径分布測定装置
2013/6/17 2013126911 特許 粒子径分布測定装置
2013/6/11 2014522519 特許 光透過性粒子測定方法及び光透過性粒子測定装置
2013/6/4 2013117741 特許 模擬ガス供給装置
2013/6/3 2013117262 特許 排ガスサンプリング装置
2013/5/17 2013104753 特許 排ガス分析システム、排ガス採取装置、及び、排ガス漏れ検知方法
2013/5/17 2013105519 特許 血液分析装置
2013/5/16 2013104434 特許 排ガス流量計及び排ガス分析システム
2013/5/15 2013103435 特許 ラマン散乱を用いた心臓組織の識別方法及び装置
2013/5/10 2013100186 特許 車両挙動解析システム、車両挙動解析装置及び車両挙動解析プログラム
2013/4/26 2013093773 特許 全血血球免疫測定装置
2013/4/23 2013090601 特許 放射線検出器、放射線検出方法及びコンピュータプログラム
2013/4/18 2013087320 特許 マイクロチップ
2013/4/15 2013027761 商標 ＨＯＰ
2013/3/29 2013074767 特許 排ガス混合器及び定容量サンプリング装置
2013/3/25 2013061777 特許 製造処理プロセスで用いられる濃度測定装置
2013/3/21 2013058416 特許 温度計
2013/3/11 2013048342 特許 内燃機関試験システム
2013/3/11 2013048341 特許 排ガス分析装置
2013/3/7 2013044940 特許 排ガスサンプリング装置
2013/3/5 2013043040 特許 マイクロチップ用遠心力印加装置
2013/2/7 2013557575 特許 測定データ表示装置
2013/2/6 2013021808 特許 排ガスサンプリング装置
2013/1/8 2013001129 特許 マイクロチップ

株式会社堀場製作所の政府届出情報

  • 総務省   〜2019-03-31
    精密機器類,医療用機器類,その他機器類,その他,精密機器類,医療用機器類,その他機器類,その他,調査・研究,建物管理等各種保守管理,その他：物品の製造（その他）
  • 経済産業省
    計量法届出製造事業者：濃度計第一類
  • 経済産業省
    計量法届出製造事業者：濃度計第二類
  • 経済産業省
    計量法届出製造事業者：濃度計第三類

株式会社堀場製作所の政府表彰履歴

  • 厚生労働省   
    両立支援のひろば　一般事業主行動計画公表
  • 経済産業省   
    新・ダイバーシティ経営企業１００選：多様な人材を活用し経営上の成果を上げている企業
  • 厚生労働省   
    ポジティブアクション
近隣（京都府京都市南区）の法人情報
  • 宏光株式会社
    宏光株式会社の所在地は京都府京都市南区吉祥院西定成町１５番地１で、2019-12-13に法人番号：9130001065905が指定されました。
  • 株式会社ＮＯＡ
    株式会社ＮＯＡの所在地は京都府京都市南区吉祥院嶋高町１９番地２で、2024-04-24に法人番号：5130001076897が指定されました。
  • 有限会社大顯工事
    有限会社大顯工事の所在地は京都府京都市南区西九条高畠町１６番地６－１Ｆで、2015-10-05に法人番号：4130002011103が指定されました。
  • 株式会社ＡＰＥＸ
    株式会社ＡＰＥＸの所在地は京都府京都市南区久世殿城町５３２番地１ユニメントターンドール１０２号で、2017-05-18に法人番号：9011701020847が指定されました。
  • 株式会社スカイネット
    株式会社スカイネットの所在地は京都府京都市南区上鳥羽南岩ノ本町６９番地で、2021-02-10に法人番号：4130001068607が指定されました。
  • 株式会社時岡商店
    株式会社時岡商店の所在地は京都府京都市南区東九条西山町１３番地で、2015-10-05に法人番号：4130001011260が指定されました。
  • 株式会社清弘エンジニアリング
    株式会社清弘エンジニアリングの所在地は京都府京都市南区上鳥羽馬廻町５８番地で、2015-10-05に法人番号：7160001013821が指定されました。
  • 株式会社ブリッジポート
    株式会社ブリッジポートの所在地は京都府京都市南区吉祥院仁木ノ森町４番地５で、2024-04-22に法人番号：3130001076890が指定されました。
  • 淡路屋デザイン株式会社
    淡路屋デザイン株式会社の所在地は京都府京都市南区東九条西河辺町４１－３コープ野村京都南１０１号で、2015-10-05に法人番号：5120001146239が指定されました。
  • 合同会社ＡＮＴＨＥＭ
    合同会社ＡＮＴＨＥＭの所在地は京都府京都市南区吉祥院九条町１６パインフィールド吉祥院１０２で、2024-04-19に法人番号：3130003009469が指定されました。
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