株式会社アドバンテスト - 東京都千代田区

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株式会社アドバンテストの基本データ

商号又は名称 株式会社アドバンテスト
商号又は名称（フリガナ） アドバンテスト
商号又は名称（英語表記） ADVANTEST CORPORATION
法人番号 9011601000379
法人種別 株式会社
都道府県 東京都
市区町村 千代田区
郵便番号 〒1000005
登記住所 東京都千代田区丸の内１丁目６番２号
国内所在地（英語表記） 1-6-2 Marunouchi, Chiyoda ku Tokyo
最寄り駅 東京メトロ丸ノ内線ほか 大手町駅 0.3km 徒歩4分以上
登録年月日 2019/07/04
更新年月日 2019/07/17
更新区分 吸収合併
更新事由 令和１年７月１日東京都千代田区丸の内一丁目６番２号Ｃｌｏｕｄ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　Ｓｅｒｖｉｃｅ株式会社（3010001149163）を合併
概要 株式会社アドバンテストの法人番号は9011601000379です。
株式会社アドバンテストの法人種別は"株式会社"です。
商号又は名称のヨミガナはアドバンテスト です。
また商号又は名称の英語表記はADVANTEST CORPORATION となります。
登記上の所在地は、2019/07/17現在 〒1000005 東京都千代田区丸の内１丁目６番２号 となっています。
また、国内所在地の英語表記は 1-6-2 Marunouchi, Chiyoda ku Tokyo になります。
"東京メトロ丸ノ内線ほか 大手町駅 0.3km 徒歩4分以上" が最寄り駅の情報となります。
位置情報：東京都千代田区丸の内１丁目６番２号

株式会社アドバンテスト周辺の天気情報

千代田区の予測雨量
05/06 03:05現在0（mm/h） 05/06 04:05予測0（mm/h）
東京都 東京 の天気
今日 05月05日(日) 明日 05月06日(月)
晴れ  晴れ : 最高 29 ℃ 最低  - ℃ 晴のち曇  晴のち曇 : 最高 26 ℃ 最低 19 ℃
　本州付近は高気圧に覆われています。 　東京地方は、晴れています。 　５日は、高気圧に覆われて、晴れるでしょう。 　６日は、はじめ高気圧に緩やかに覆われますが、上空の気圧の谷や湿った空気の影響を受けるでしょう。このため、晴れ昼前から曇りとなる見込みです。 【関東甲信地方】 　関東甲信地方は、晴れています。 　５日は、高気圧に覆われて、晴れるでしょう。 　６日は、はじめ高気圧に緩やかに覆われますが、上空の気圧の谷や湿った空気の影響を受けるでしょう。このため、晴れのち曇りで、夜は長野県で雨の降る所がある見込みです。 　関東地方と伊豆諸島の海上では、５日から６日にかけて、波がやや高いでしょう。５日はうねりを伴う見込みです。船舶は高波に注意してください。
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同名法人の情報あり

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変更履歴

  • 2019-07-04  [ 吸収合併 ]
    令和１年７月１日東京都千代田区丸の内一丁目６番２号Ｃｌｏｕｄ　Ｔｅｓｔｉｎｇ　Ｓｅｒｖｉｃｅ株式会社（3010001149163）を合併
  • 2018-07-02  [ 国内所在地の変更 ]
    東京都千代田区丸の内１丁目６番２号へ所在地が変更されました。
  • 2015-10-05  [ 新規 ]
    株式会社アドバンテスト［東京都練馬区旭町１丁目３２番１号］の法人番号が新規登録されました。

株式会社アドバンテストの株式上場データ

マーケット 東証一部
業種 電気機器
証券コード6857
上場年月日1983年2月9日
決算月3月末日

株式会社アドバンテストの法人詳細データ

代表者名 代表取締役兼執行役員社長・Group CEO　吉田　芳明
法人名ふりがな あどばんてすと
資本金 32,363,000,000円
従業員数 2,481人
設立年月日 1946年12月16日
事業概要 半導体・部品テストシステム事業、メカトロニクス関連事業、サービス他
事業項目 116,117,118,119,216,217,218,219,303,304,314
企業ホームページ  http://www.advantest.co.jp/

株式会社アドバンテストの大株主の状況

企業名もしくは出資者 出資比率（％）
日本マスタートラスト信託銀行株式会社（信託口） 33.26
株式会社日本カストディ銀行（信託口） 15.33
ＳＴＡＴＥ　ＳＴＲＥＥＴ　ＢＡＮＫ　ＷＥＳＴ　ＣＬＩＥＮＴ　－　ＴＲＥＡＴＹ　５０５２３４ （常任代理人　株式会社みずほ銀行） 1.73
ＨＳＢＣ　ＨＯＮＧＫＯＮＧ－ＴＲＥＡＳＵＲＹ　ＳＥＲＶＩＣＥＳ　Ａ／Ｃ　ＡＳＩＡＮ　ＥＱＵＩＴＩＥＳ　ＤＥＲＩＶＡＴＩＶＥＳ （常任代理人　香港上海銀行東京支店） 1.59
ＮＯＲＴＨＥＲＮ　ＴＲＵＳＴ　ＣＯ．（ＡＶＦＣ）　ＲＥ　ＮＯＮ　ＴＲＥＡＴＹ　ＣＬＩＥＮＴＳ　ＡＣＣＯＵＮＴ （常任代理人　香港上海銀行東京支店） 1.53
ＳＴＡＴＥ　ＳＴＲＥＥＴ　ＢＡＮＫ　ＡＮＤ　ＴＲＵＳＴ　ＣＯＭＰＡＮＹ　５０５２２５ （常任代理人　株式会社みずほ銀行） 1.1
ＳＳＢＴＣ　ＣＬＩＥＮＴ　ＯＭＮＩＢＵＳ　ＡＣＣＯＵＮＴ （常任代理人　香港上海銀行東京支店） 1.03
ゴールドマン・サックス証券株式会社　ＢＮＹＭ 1
ＤＺ　ＰＲＩＶＡＴＢＡＮＫ　Ｓ．Ａ．　ＲＥ　ＩＮＶＥＳＴＭＥＮＴＦＯＮＤＳ （常任代理人　株式会社三菱ＵＦＪ銀行） 0.91
ＳＴＡＴＥ　ＳＴＲＥＥＴ　ＢＡＮＫ　ＡＮＤ　ＴＲＵＳＴ　ＣＯＭＰＡＮＹ　５０５１０３ （常任代理人　株式会社みずほ銀行） 0.89

株式会社アドバンテストの経営指標の推移

 当期 第81期（自　2022年４月１日　至　2023年３月31日）
当期（円）
売上高 482,576,000,000
経常利益又は経常損失（△） 150,368,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 115,834,000,000
資本金 32,363,000,000
純資産 305,989,000,000
総資産 533,860,000,000
従業員数 1,988 人
1期前（円）
売上高 355,575,000,000
経常利益又は経常損失（△） 93,667,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 70,814,000,000
資本金 32,363,000,000
純資産 262,918,000,000
総資産 459,809,000,000
従業員数 1,986 人
2期前（円）
売上高 271,875,000,000
経常利益又は経常損失（△） 54,736,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 53,031,000,000
資本金 32,363,000,000
純資産 285,409,000,000
総資産 414,128,000,000
従業員数 2,025 人
3期前（円）
売上高 253,795,000,000
経常利益又は経常損失（△） 59,096,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 55,066,000,000
資本金 32,363,000,000
純資産 260,243,000,000
総資産 372,821,000,000
従業員数 2,021 人
4期前（円）
売上高 261,120,000,000
経常利益又は経常損失（△） 53,164,000,000
当期純利益又は当期純損失（△） 48,310,000,000
資本金 32,363,000,000
純資産 220,826,000,000
総資産 329,537,000,000
従業員数 2,067 人

株式会社アドバンテストの職場データ

平均勤続年数（男女） 男性：22年 女性：17年
労働者に占める女性労働者の割合 26%

株式会社アドバンテストの特許情報  120件

出願年月日 出願番号 特許分類 タイトル
2022/5/12 2022010043 意匠 電子部品試験装置用キャリア
2022/2/9 2022019093 特許 試験用キャリア
2021/7/21 2021120855 特許 試験用キャリア、及び、電子部品試験装置
2021/7/5 2021014553 意匠 電子部品試験装置用キャリア
2021/7/5 2021014554 意匠 電子部品試験装置用キャリア
2021/3/15 2021041844 特許 拡張補助インタフェーステストシステムおよび方法
2021/3/10 2021028253 商標 §ＶＧＥＭ
2020/11/9 2020138169 商標 ＭｉＥＴＡ
2020/9/28 2021551274 特許 保守装置、保守方法、および、保守プログラム
2020/9/4 2020110005 商標 Ａｄｖａｎｔｅｓｔ　ＩＱ　Ｂｏｘ
2020/9/4 2020110006 商標 Ｘｔｒｅｍｅ　Ｌｉｎｋ
2020/7/27 2020092132 商標 ｍｙＡｄｖａｎｔｅｓｔ
2020/5/26 2020010310 意匠 同軸コネクタ
2020/5/26 2020010311 意匠 同軸コネクタ
2020/5/11 2021536617 特許 検査装置、検査方法、および、検査プログラム、ならびに、学習装置、学習方法、および、学習プログラム
2020/4/9 2020070666 特許 シミュレートされたデバイスをメモリベース通信プロトコルを使用してテストするためのシステムおよび方法
2020/3/3 2020022831 商標 §Ｌｕｍｉｆｉｎｄｅｒ
2020/2/6 2020561047 特許 １または複数の被テストデバイスをテストするための自動テスト装置、および、自動テスト装置を操作するための方法
2020/1/22 2020561063 特許 １または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、１または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、バッファメモリを使用するコンピュータプログラム
2020/1/22 2020560932 特許 １または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、１または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、コマンドエラーを処理するためのコンピュータプログラム
2019/12/27 2019239390 特許 レーザ光出力装置
2019/12/27 2019239391 特許 光音響波測定装置
2019/12/3 2019151705 商標 §ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ
2019/10/16 2019189595 特許 光学試験用装置
2019/10/15 2019188822 特許 光学試験用装置および光学測定器具の試験方法
2019/9/24 2019172575 特許 内視鏡、蛍光測定装置およびレンズ保持筒状体
2019/9/17 2019168170 特許 ファントムおよび蛍光検出装置
2019/9/9 2019163660 特許 非集中化環境においてデバイスを制御する方法、非集中化ストレージシステム、非集中化ストレージネットワーク
2019/8/22 2019152043 特許 製造装置および製造方法
2019/8/6 2020521430 特許 電気フィルタ構造
2019/7/8 2019094113 商標 §ｍｉｃｒｏ　ＳＣＯｕＴＥＲ
2019/7/8 2019094112 商標 §ｎａｎｏ　ＳＣＯｕＴＥＲ
2019/6/28 2019121980 特許 信号処理装置および信号処理方法
2019/5/31 2019103155 特許 試験装置、試験方法およびプログラム
2019/5/29 2019100390 特許 試験装置
2019/5/23 2019096858 特許 電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置
2019/5/9 2019088777 特許 光学試験用装置
2019/4/15 2019052420 商標 ＵｍａｉＴ－ｅｓｔ
2019/3/26 2019058979 特許 光音響波測定装置
2019/3/25 2019056904 特許 半導体装置
2019/3/20 2019053516 特許 インタポーザ、ソケット、ソケット組立体、及び、配線板組立体
2019/2/28 2019036449 特許 試験システム、インタフェースユニット
2019/1/21 2019007504 特許 バーンインボード及びバーンイン装置
2018/12/14 2018234115 特許 センサ試験装置
2018/12/14 2018234114 特許 センサ試験装置
2018/12/14 2018234116 特許 センサ試験システム
2018/11/21 2018218001 特許 測定結果受信装置および測定装置ならびにこれらの方法、プログラムおよび記録媒体
2018/10/25 2018133092 商標 §Ａｉｒ＼Ｌｏｇｇｅｒ
2018/10/12 2018193325 特許 解析装置、解析方法および解析プログラム
2018/10/12 2018193304 特許 解析装置、解析方法および解析プログラム
2018/10/12 2018193315 特許 解析装置、解析方法および解析プログラム
2018/9/28 2018185219 特許 ポアチップケースおよび微粒子測定システム
2018/9/19 2018175144 特許 ポアデバイスおよび微粒子測定システム
2018/9/13 2018171557 特許 装置、方法、およびプログラム
2018/9/10 2018168935 特許 計測装置
2018/9/4 2018165314 特許 微粒子測定システム、計測装置
2018/7/26 2018140087 特許 ロードボード及び電子部品試験装置
2018/7/26 2018140616 特許 計測装置および微粒子測定システム
2018/5/28 2018101241 特許 フロントエンド回路、テストボード、テストシステム、コンピュータおよびプログラム
2018/5/11 2018092189 特許 製造装置、検査方法、製造方法およびプログラム
2018/5/11 2021149669 特許 試験用キャリア
2018/5/11 2018091987 特許 試験用キャリア
2018/4/25 2018084431 特許 テストプログラムフロー制御
2018/4/25 2018084487 特許 テストシステム及び方法
2018/4/20 2018081567 特許 ソフトウェアアプリケーションプログラミングインタフェース（ＡＰＩ）を用いた自動テスト機能のユーザによる制御
2018/1/19 2018007258 特許 測定装置、方法、プログラム、記録媒体
2018/1/18 2020521419 特許 変圧器装置、回路装置および変圧器装置を動作させる方法
2017/12/7 2017234813 特許 光超音波測定装置、方法、プログラム、記録媒体
2017/12/6 2017234391 特許 温度測定装置、リアクター、酵素活性度の評価装置およびその評価方法
2017/11/16 2017221010 特許 ポリフェーズフィルタの測定装置および測定方法
2017/10/19 2017202961 特許 三次元積層造形装置および積層造形方法
2017/10/19 2017202962 特許 三次元積層造形装置および積層造形方法
2017/10/6 2017196192 特許 カロリメトリックセンサ、それを用いた検査装置
2017/8/4 2017151260 特許 磁気センサ試験装置
2017/7/20 2017141379 特許 製造装置、製造方法、およびプログラム
2017/7/13 2017136705 特許 製造装置、製造方法、およびプログラム
2017/6/28 2017126638 特許 三次元積層造形装置及びその照射位置ずれ検出方法
2017/4/28 2017089436 特許 電子部品試験装置用のキャリア
2017/4/28 2017089438 特許 電子部品試験装置用のキャリア
2017/4/28 2017089448 特許 電子部品試験装置用のキャリア
2017/4/28 2017009411 意匠 電子部品試験装置用キャリア
2016/12/28 2016256523 特許 デバイス測定用治具
2016/11/16 2016223426 特許 化合物半導体装置およびその製造方法
2016/7/13 2016138447 特許 磁場測定装置及び磁場測定方法
2016/6/20 2016121845 特許 化合物半導体装置の製造方法
2016/6/20 2016121846 特許 エピ基板
2016/3/30 2016067774 特許 ＲＦ信号生成装置およびＲＦ信号解析装置
2016/3/7 2016043549 特許 異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜
2016/2/15 2016025991 特許 テストシステム、試験装置
2016/1/29 2016015468 特許 磁気ノイズ消去装置及び磁場測定装置
2015/12/25 2015254442 特許 デバイス測定用治具
2015/10/8 2015200330 特許 試験装置、試験信号供給装置、試験方法、およびプログラム
2015/9/14 2017517817 特許 電磁放射を用いた非侵襲性の原位置における血のグルコース値の検出
2015/8/21 2017536078 特許 接点装置および製造方法
2015/8/11 2015077393 商標 Ｈａｄａｔｏｍｏ
2015/6/2 2015111897 特許 半導体装置
2015/5/25 2015105262 特許 電子部品ハンドリング装置及び電子部品試験装置
2015/4/28 2015092207 特許 プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定
2014/11/28 2018085354 特許 測定装置
2014/11/28 2014242022 特許 測定装置
2014/11/28 2014242020 特許 測定装置
2014/11/28 2014242019 特許 電流測定回路および塩基配列解析装置
2014/11/28 2014242021 特許 電流測定装置および塩基配列解析装置、測定用チップ
2014/11/28 2014242023 特許 測定装置
2014/11/12 2014229726 特許 荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法
2014/10/31 2014222709 特許 認証システム、認証方法およびサービス提供システム
2014/9/24 2014194219 特許 脈波センサユニット
2014/9/24 2014194214 特許 脈波センサユニット
2014/9/18 2014189659 特許 電子デバイス
2014/9/11 2014184941 特許 パターン高さ測定装置及びパターン高さ測定方法
2014/8/27 2014172302 特許 露光装置
2014/7/18 2014147519 特許 テストスライスとトレイとの間の高速テスタ通信インターフェイス
2014/7/16 2014146017 特許 半導体スイッチおよびそれを用いた試験装置
2014/7/3 2014137364 特許 試験用キャリア
2014/4/23 2014089169 特許 補償回路、情報処理装置、補償方法、およびプログラム
2014/3/26 2014063986 特許 ステージ装置および電子線装置
2014/3/11 2014047238 特許 試験装置および接続ユニット
2014/2/26 2014035755 特許 半導体装置の製造方法
2014/1/14 2014003927 特許 電子ビーム露光装置
2013/10/8 2013211352 特許 スイッチ装置および試験装置

株式会社アドバンテストの政府届出情報

  • 総務省   〜2019-03-31
    電気・通信用機器類,電子計算機類,精密機器類,医療用機器類,電気・通信用機器類,電子計算機類,精密機器類,医療用機器類,調査・研究,情報処理,防衛用装備品類の整備：物品の製造（その他）
近隣（東京都千代田区）の法人情報
  • シー・シックス・ファイブ・ホールディングス株式会社
    シー・シックス・ファイブ・ホールディングス株式会社の所在地は東京都千代田区丸の内２丁目４番１号で、2024-05-02に法人番号：9010001244479が指定されました。
  • 株式会社ジューシー
    株式会社ジューシーの所在地は東京都千代田区丸の内１丁目５番１号で、2024-05-02に法人番号：8010001244513が指定されました。
  • 株式会社ＹＯＮＳ
    株式会社ＹＯＮＳの所在地は東京都千代田区平河町１丁目６番１５号ＵＳビル８Ｆで、2024-05-02に法人番号：8010001243861が指定されました。
  • シルクル３合同会社
    シルクル３合同会社の所在地は東京都千代田区九段南４丁目６番１－２０２号で、2024-05-02に法人番号：7010003043625が指定されました。
  • ＣｈｅｆＳｅｃ株式会社
    ＣｈｅｆＳｅｃ株式会社の所在地は東京都千代田区神田和泉町１番地６－１６ヤマトビル４０５で、2024-05-02に法人番号：7010001244497が指定されました。
  • 合同会社水仙信用サービス
    合同会社水仙信用サービスの所在地は東京都千代田区丸の内３丁目１番１号東京共同会計事務所内で、2024-05-02に法人番号：4010003043628が指定されました。
  • ペロブスカイトシステムズ株式会社
    ペロブスカイトシステムズ株式会社の所在地は東京都千代田区三番町３－７セット東京ビル３階で、2024-05-02に法人番号：4010001244426が指定されました。
  • ノット・ザット・フィルムズ合同会社
    ノット・ザット・フィルムズ合同会社の所在地は東京都千代田区平河町２丁目５－３ＭＩＤＯＲＩ．ｓｏＮＡＧＡＴＡＣＨＯ５階で、2024-05-02に法人番号：3010003043629が指定されました。
  • 株式会社ヴァルキリーインタラクティブ
    株式会社ヴァルキリーインタラクティブの所在地は東京都千代田区神田駿河台２丁目２－１國井ビル４Ｆで、2024-05-02に法人番号：2010001244403が指定されました。
  • ＣＨＡＩＮＳＴＡＲ株式会社
    ＣＨＡＩＮＳＴＡＲ株式会社の所在地は東京都千代田区大手町１丁目６－１大手町ビル１Ｆ－３ＦＳｐａｃｅｓ大手町で、2024-05-02に法人番号：2010001244386が指定されました。
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